本申請實(shí)施例公開了一種彎折測試設(shè)備和彎折測試方法，用于測試具有多條第一線路的待測試件，所述彎折測試設(shè)備包括轉(zhuǎn)接結(jié)構(gòu)，所述轉(zhuǎn)接結(jié)構(gòu)設(shè)有多條第二線路，多條所述第二線路能夠和多條所述第一線路連接后形成一條串聯(lián)線路。本申請實(shí)施例中，待測試件的多條第一線路由相互獨(dú)立設(shè)置的狀態(tài)，由轉(zhuǎn)接結(jié)構(gòu)連接后變?yōu)榇?lián)狀態(tài)，則僅對該串聯(lián)線路的兩個連接端進(jìn)行監(jiān)測，即可實(shí)現(xiàn)阻抗組態(tài)的實(shí)時監(jiān)測。任一條第一線路發(fā)生折斷、磨損或者其他損傷等失效情況，都會導(dǎo)致電阻值發(fā)生較大變化，從而可及時獲悉待測試件的第一線路處于失效狀態(tài)，并相應(yīng)地獲得失效時彎折次數(shù)的數(shù)據(jù)。可見，本方案測試效率高，測試周期短，獲得的失效數(shù)據(jù)及時、可靠。