本發(fā)明提供一種對用于存儲附加了錯誤訂正符號的數據流的被測試存儲器(以下稱為DUT)進行有效測試的測試裝置。該測試裝置將從DUT讀取的數據流所包含的各比特與期望值相比較。該比較結果作為表示DUT的每個存儲單元是否合格的比特合格/失效信息被存儲在第一失效存儲器(以下稱為FM)中。存儲裝置在每一頁統(tǒng)計與期望值不一致的比特數,并在DUT的每一級別及每一頁,判斷與期望值不一致的比特數是否滿足該級別的條件。該判斷結果作為在每個級別表示各頁是否合格的頁合格/失效信息被存儲在第二FM中。如果包含有對應某存儲單元的比特的頁滿足某級別條件的比特合格信息存儲在第二FM中,則測試裝置將第一FM的比特合格/失效信息變更為表示該存儲單元合格的值進行輸出。
聲明:
“測試裝置以及測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)