本發(fā)明公開一種具自測試功能的眾核計算電路、及其測試方法、裝置,所述眾核計算電路包括:處理引擎模塊,包括N個處理引擎單元,其中,N為正整數(shù);存儲模塊,包括M個第一存儲單元,其中,M為正整數(shù);片上總線,所述片上總線包括L個通道,其中,L=M*N;自測試模塊,包括:至少一個內(nèi)建自測試單元;第一選擇器,所述內(nèi)建自測試單元通過所述第一選擇器可選擇性地連接至所述片上總線;M個第二存儲單元;及M個第二選擇器,每個所述第二存儲單元通過一個所述第二選擇器與一個第一存儲單元并行地、可選擇性地連接至所述片上總線。本發(fā)明可定位并標(biāo)記出眾核計算電路的失效單元,以便及時對失效單元進(jìn)行修復(fù)。
聲明:
“具自測試功能的眾核計算電路、及其測試方法、裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)