本發(fā)明公開(kāi)了一種語(yǔ)義云功能的質(zhì)量測(cè)試方法、裝置、存儲(chǔ)介質(zhì)和設(shè)備，解決現(xiàn)有技術(shù)中根據(jù)不同語(yǔ)義文本所對(duì)應(yīng)的語(yǔ)義云業(yè)務(wù)功能進(jìn)行測(cè)試時(shí)，測(cè)試詞條的收集、分類歸檔或根據(jù)測(cè)試詞條對(duì)應(yīng)的測(cè)試，需要人工一步步完成的技術(shù)問(wèn)題。該質(zhì)量測(cè)試方法，包括：根據(jù)語(yǔ)義云的業(yè)務(wù)類別定義相應(yīng)的語(yǔ)義規(guī)則，爬網(wǎng)收集樣本數(shù)據(jù)，對(duì)爬網(wǎng)收集的樣本數(shù)據(jù)進(jìn)行清洗以篩選出符合語(yǔ)義規(guī)則的測(cè)試用例數(shù)據(jù)；利用測(cè)試用例數(shù)據(jù)對(duì)語(yǔ)義云的業(yè)務(wù)進(jìn)行測(cè)試，驗(yàn)證語(yǔ)義云系統(tǒng)接口功能是否失效或違背，以獲得缺陷數(shù)據(jù)；存儲(chǔ)測(cè)試用例數(shù)據(jù)和缺陷數(shù)據(jù)以建立數(shù)據(jù)庫(kù)；分析數(shù)據(jù)庫(kù)中的測(cè)試用例數(shù)據(jù)和缺陷數(shù)據(jù)，對(duì)缺陷數(shù)據(jù)進(jìn)行分類并輸出展示，同時(shí)進(jìn)行數(shù)學(xué)建模以繪制質(zhì)量趨勢(shì)圖并輸出展示。