本發(fā)明涉及
芯片測試領域,提供一種確定器件故障點的測試方法及裝置。所述確定器件故障點的測試方法包括:按時間順序對器件的介質層施加恒定電壓和脈沖電壓;監(jiān)測所述脈沖電壓的變化情況,根據(jù)所述脈沖電壓的變化情況確定所述器件的介質層是否被擊穿;在確定所述器件的介質層被擊穿這一時刻停止施加所述脈沖電壓,根據(jù)所述介質層的擊穿情況確定所述器件最早發(fā)生故障的故障點。本發(fā)明在器件介質層被擊穿的最早時期,能夠立即感知到電壓的變化,并立即停止施加電壓。此時器件介質層擊穿損壞不嚴重,可根據(jù)損壞情況精確定位器件最早發(fā)生故障的故障點的位置,從而分析出導致失效的具體原因,促進設計改進和制造工藝改進。
聲明:
“確定器件故障點的測試方法及裝置、存儲介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)