一種掃描電鏡中單根納米線原位力學(xué)綜合性能測試裝置及方法,屬于
納米材料性能原位檢測領(lǐng)域。該發(fā)明通過設(shè)計粗調(diào)位移平臺、壓電陶瓷拉伸單元和微懸臂梁力學(xué)檢測系統(tǒng),實現(xiàn)對納米線的彈性,塑性和斷裂過程的力學(xué)性能定量測量,也可以對納米線進(jìn)行電學(xué)性能測量。利用掃描電子顯微鏡成像系統(tǒng)原位實時記錄納米線在力場和電場作用下彈塑性變形過程、斷裂失效的方式以及電荷傳輸特性,將納米線的力學(xué)性能,電學(xué)性能,力學(xué)和電學(xué)耦合性能以及微觀結(jié)構(gòu)變化直接對應(yīng)起來,從納米尺度上揭示一維納米線的綜合性能。本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡單,便于操作,應(yīng)用范圍廣,具有直觀性和定量檢測的特性,便于解釋和發(fā)現(xiàn)納米材料優(yōu)異的力學(xué)等綜合性能。
聲明:
“掃描電鏡中單根納米線原位力學(xué)綜合性能測試裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)