本發(fā)明屬于半導(dǎo)體光電器件的制造技術(shù),涉及一種半導(dǎo)體激光器的可靠性測試方法,此方法為檢測產(chǎn)品的工作性能。其檢測方法如下:A:在常溫25℃下給激光器加一個(gè)工作電流使出光功率為Po,測試其當(dāng)前的背光電流Im并記錄;B:在高溫85℃下給激光器加一個(gè)工作電流使背光電流為Im,測試其當(dāng)前的出光功率P1并記錄;C:在低溫-40℃下給激光器加一個(gè)工作電流使背光電流為Im,測試其當(dāng)前的出光功率P2并記錄;D:高溫85℃下激光器的光功率變化TE=10LOG(P1/Po);E:低溫-40℃下激光器的光功率變化TE=10LOG(P2/Po);F:合格判定標(biāo)準(zhǔn)為TE≤1.5dB。本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)是可以預(yù)先判定一個(gè)激光器的工作穩(wěn)定性和失效模式,將產(chǎn)品成本降到最低,其測試的方法簡單方便,測試系統(tǒng)搭建的成本低。
聲明:
“半導(dǎo)體激光器的可靠性測試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)