一種閃存壽命預(yù)測方法和篩選方法,所述閃存壽命預(yù)測方法包括檢測采樣閃存在被擦除后的多個不同的等待時間值后的余量電流;根據(jù)所述采樣閃存的多個所述等待時間值和所述余量電流,擬合得到所述余量電流與所述等待時間值的自然對數(shù)之間的第一映射關(guān)系,所述第一映射關(guān)系為線性關(guān)系;根據(jù)所述第一映射關(guān)系計算待預(yù)測閃存的余量電流下降至預(yù)設(shè)失效余量電流所需的等待時間值,作為所述待預(yù)測閃存的壽命。本發(fā)明的閃存壽命預(yù)測方法和篩選方法提高了閃存壽命預(yù)測以及閃存篩選的準確性和便捷性。
聲明:
“閃存壽命預(yù)測方法和篩選方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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