一種基于ATE快速生成存儲
芯片修復裝置及測試方法,該方法包括將待測存儲芯片鏈接到ATE測試機上;對待測存儲芯片發(fā)送測試波形,測試出待測存儲芯片的失效陣列,將失效陣列的數(shù)據(jù)存在ATE測試機上;ATE測試機發(fā)送信號通過第二通信單元和接口單元將失效陣列的數(shù)據(jù)發(fā)送給外設(shè)處理模塊的接口單元;運算單元以冗余陣列和失效陣列的數(shù)據(jù)作為輸入條件,運行修復算法以及計算得到修復方案,并控制第二通信單元和運算單元向ATE測試機傳輸修復方案;ATE測試機根據(jù)修復方案通過第一通信單元對待測存儲芯片發(fā)送修復波形,將標準成品陣列中失效陣列所承擔的功能映射到冗余陣列中去完成,以實現(xiàn)待測存儲芯片的修復。因此,本發(fā)明節(jié)省了測試時間和測試成本。
聲明:
“基于ATE快速生成存儲芯片修復裝置及測試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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