本發(fā)明提供一種單元壽命服從威布爾分布時k/n(G)系統(tǒng)的剩余壽命預(yù)測方法,首先隨機(jī)抽取N個k/n(G)系統(tǒng)組成單元的樣品進(jìn)行壽命試驗,獲得各樣品的失效時間,估計各樣本的失效時間的失效概率;基于水平誤差函數(shù)計算k/n(G)系統(tǒng)組成單元壽命分布參數(shù)的點估計;根據(jù)k/n(G)系統(tǒng)組成單元壽命分布參數(shù)的點估計預(yù)測k/n(G)系統(tǒng)的剩余壽命。本發(fā)明通過上述步驟很好地解決了單元壽命服從威布爾分布時k/n(G)系統(tǒng)的剩余壽命預(yù)測問題,且步驟簡單,結(jié)果清晰,易于操作。
聲明:
“單元壽命服從威布爾分布時k/n(G)系統(tǒng)的剩余壽命預(yù)測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)