本申請涉及一種暴露產(chǎn)品薄弱環(huán)節(jié)測試方案的確定方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)和計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品。方法包括:獲取目標(biāo)產(chǎn)品的各組成部件,并確定與各組成部件分別對應(yīng)的失效模式;確定與各失效模式分別對應(yīng)的應(yīng)力類型以及破壞程度等級;統(tǒng)計(jì)各應(yīng)力類型分別對應(yīng)的破壞程度總等級;依據(jù)各應(yīng)力類型和各破壞程度總等級,確定測試方案;測試方案包括應(yīng)力測試模式和應(yīng)力測試順序。本方法中的測試方案是針對目標(biāo)產(chǎn)品的特性確定出的,因此按照本方法確定出的測試方案對目標(biāo)產(chǎn)品進(jìn)行薄弱環(huán)節(jié)激發(fā)測試,能夠全面準(zhǔn)確地暴露產(chǎn)品的薄弱環(huán)節(jié)。
聲明:
“暴露產(chǎn)品薄弱環(huán)節(jié)測試方案的確定方法、裝置和設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)