本發(fā)明公開了一種閃存的可靠性測(cè)試方法,該方法通過兩次測(cè)試步驟來對(duì)閃存進(jìn)行篩選,第一次測(cè)試步驟直接篩選出不良品,將不能判定為不良品的閃存作為待確認(rèn)良品,以便在第二次測(cè)試步驟中對(duì)該待確認(rèn)良品進(jìn)行進(jìn)一步的測(cè)試,經(jīng)過兩次測(cè)試之后才篩選出真正的良品,提高了可靠性測(cè)試方法的準(zhǔn)確度。另外,兩次測(cè)試步驟中均對(duì)閃存施加電壓應(yīng)力,正確模擬了閃存在25℃(室溫)條件下使用10年時(shí)所承受的正常應(yīng)力條件,因而能夠利用電壓應(yīng)力來激發(fā)閃存在短時(shí)間內(nèi)產(chǎn)生跟正常應(yīng)力水平下相同的失效,進(jìn)而能夠利用該可靠性測(cè)試方法來對(duì)失效反應(yīng)活化能較低的閃存進(jìn)行篩選。
聲明:
“閃存的可靠性測(cè)試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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