本申請(qǐng)涉及電子束選區(qū)熔化增材制造技術(shù)領(lǐng)域,公開了一種陰極壽命預(yù)測(cè)方法。所述陰極壽命預(yù)測(cè)方法通過(guò)對(duì)所述EBSM打印設(shè)備進(jìn)行打印試驗(yàn),獲取所述陰極在不同氣壓環(huán)境下,所述陰極的中毒深度與打印時(shí)間的變化關(guān)系,以建立所述陰極的中毒深度模型。在所述EBSM打印設(shè)備的實(shí)際使用過(guò)程中,通過(guò)對(duì)打印時(shí)間、電子槍內(nèi)部的氣壓以及成形腔內(nèi)部的氣壓進(jìn)行監(jiān)測(cè),結(jié)合試驗(yàn)獲得的所述陰極的中毒深度模型,獲取所述陰極在打印過(guò)程中的中毒深度。通過(guò)中毒深度獲取所述陰極的剩余壽命,以完成對(duì)所述陰極的壽命預(yù)測(cè)。本發(fā)明提供的所述陰極壽命預(yù)測(cè)方法是基于陰極的中毒失效機(jī)理來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)實(shí)際EBSM打印過(guò)程中陰極的剩余壽命進(jìn)行預(yù)測(cè)的,預(yù)測(cè)效果較為精準(zhǔn)可靠。
聲明:
“陰極壽命預(yù)測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)