基于多場(chǎng)耦合計(jì)算和測(cè)試數(shù)據(jù)的電機(jī)絕緣壽命預(yù)測(cè)方法,根據(jù)電機(jī)絕緣系統(tǒng)所在位置的實(shí)際結(jié)構(gòu),建立絕緣不同程度結(jié)構(gòu)故障下,包裹絕緣的實(shí)體模型;建立磁?電?熱?流耦合場(chǎng)的數(shù)學(xué)模型;將數(shù)學(xué)模型附于實(shí)體模型,設(shè)置邊界條件、熱流密度、電流密度,采用有限元方法迭代計(jì)算,求得絕緣的磁場(chǎng)、電場(chǎng)、熱場(chǎng)和流場(chǎng);并對(duì)不同程度結(jié)構(gòu)故障下的絕緣介電常數(shù)進(jìn)行測(cè)試,根據(jù)在絕緣不同程度結(jié)構(gòu)故障下的耦合場(chǎng)計(jì)算結(jié)果和測(cè)試數(shù)據(jù),采用BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)方法對(duì)絕緣的剩余壽命進(jìn)行預(yù)測(cè)。本發(fā)明基于多種因素作用下的仿真數(shù)據(jù)更能反映絕緣的真實(shí)情況;相對(duì)于以擊穿電壓為唯一判斷絕緣失效標(biāo)準(zhǔn)的絕緣剩余壽命評(píng)估方案,銅導(dǎo)體與絕緣的溫差的監(jiān)測(cè)方法可以在不破壞絕緣的條件下監(jiān)測(cè)絕緣微故障,評(píng)估絕緣剩余壽命。
聲明:
“基于多場(chǎng)耦合計(jì)算的電機(jī)絕緣壽命預(yù)測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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