本發(fā)明公開了一種多顆Norflash樣品同時(shí)測(cè)試的方法,基于測(cè)試平臺(tái)實(shí)現(xiàn),所述方法包括:將多顆樣品連接到測(cè)試平臺(tái),進(jìn)行布線分配正確性測(cè)試;在布線分配正確性測(cè)試通過后,基于測(cè)試平臺(tái)的內(nèi)部語言代碼對(duì)同時(shí)進(jìn)行擦除的所述多顆樣品進(jìn)行循環(huán)判斷獲取擦除信息;在所述多顆樣品進(jìn)行擦除完畢后,基于嵌入測(cè)試平臺(tái)的外部語言代碼獲取每顆樣品的擦除時(shí)間和失效的存儲(chǔ)單元的地址以及執(zhí)行錯(cuò)誤樣品的停測(cè),本發(fā)明可以對(duì)多顆樣品同時(shí)測(cè)試,提高
芯片的驗(yàn)證效率,能及早根據(jù)多個(gè)樣品的測(cè)試結(jié)果得出正確的結(jié)論,效率是現(xiàn)有程序的多倍,能及早發(fā)現(xiàn)問題解決問題。
聲明:
“多顆Norflash樣品同時(shí)測(cè)試的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)