本申請?zhí)峁┝艘环NeMMC老化測試電路,運用于老化測試技術(shù)領(lǐng)域,通過短路保護電路、電壓轉(zhuǎn)換電路、震蕩器電路和邏輯電路,還包括電源DC、電路接口J144,所述電源DC的輸出端接入短路保護電路,所述短路保護電路的輸出端接入電壓轉(zhuǎn)換電路,所述電壓轉(zhuǎn)換電路的輸出端接入震蕩器電路,所述震蕩器電路的輸出端接入邏輯電路,所述邏輯電路與各個測試座子連接;所述短路保護電路包括第一短路保護電路和第二短路保護電路;具備解決目前老化測試電路所不能解決的自身缺少短路保護特性,通過外圍電路增加保險絲起到過流保護,發(fā)生過流后,保險絲永久性熔斷,此電路永久性失效、PCB板必須根據(jù)高溫老化機空間設(shè)計才能增加量產(chǎn)數(shù)量、局限較大的技術(shù)問題。
聲明:
“eMMC老化測試電路” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)