本發(fā)明公開了一種基于有限元仿真的IGBT狀態(tài)監(jiān)測(cè)方法,其包括以下步驟:S1、獲取IGBT模塊Vce,on的歷史數(shù)據(jù);S2、建立鍵合線退化過程的失效物理模型;S3、建立鍵合線退化過程的狀態(tài)空間方程;S4、通過參數(shù)學(xué)習(xí)算法確定Vce,on修正方程的未知量;S5、狀態(tài)估計(jì)。本發(fā)明揭示了IGBT模塊Vce,on的增加與鍵合線退化的關(guān)系,建立了IGBT模塊鍵合線退化的精確模型,利用基于粒子的邊緣重采樣移動(dòng)算法估算出當(dāng)前裂紋長度,從而進(jìn)行狀態(tài)估計(jì)。從建立模型到算法實(shí)現(xiàn),不需要進(jìn)行大量的功率循環(huán)試驗(yàn),與傳統(tǒng)狀態(tài)監(jiān)測(cè)方法相比,降低了時(shí)間成本和經(jīng)濟(jì)成本,減小了監(jiān)測(cè)誤差,提高了IGBT的可靠性。
聲明:
“基于有限元仿真的IGBT狀態(tài)監(jiān)測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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