本發(fā)明公開了一種基于制造參數(shù)的微型斷路器動作可靠性預測方法,所述方法如下:1)確定造成產(chǎn)品動作特性退化的關鍵鉸鏈、失效閾值;2)將孔與軸的初始間隙作為初始制造參數(shù);3)建立多體動力學模型;4)計算第一周期內(nèi)磨損造成的孔與軸間隙增長量;5)將孔與軸間隙增長量與初始間隙加和作為新的制造參數(shù);6)計算本周期內(nèi)磨損造成的孔與軸間隙增長量;7)將孔與軸間隙增長量與初始間隙加和作為新的制造參數(shù),記錄工作周期內(nèi)斷路器的動作特性退化情況;8)結合閾值計算該批次斷路器的動作可靠性。本發(fā)明能根據(jù)斷路器生產(chǎn)過程中所記錄的零件制造參數(shù)預測產(chǎn)品的動作可靠性,將產(chǎn)品的退化預測與生產(chǎn)過程緊密連接。
聲明:
“基于制造參數(shù)的微型斷路器動作可靠性預測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)