本發(fā)明公開了一種基于支持向量回歸的閃存壽命預(yù)測方法，包括下述步驟：(1)獲取待測閃存的特征量，特征量包括：閃存的編程時(shí)間、讀取時(shí)間、擦除時(shí)間、電流、功耗、閾值電壓分布、存儲(chǔ)塊編號(hào)、存儲(chǔ)頁號(hào)、閃存當(dāng)前經(jīng)歷過的編程/擦除周期數(shù)、條件錯(cuò)誤頁數(shù)、條件錯(cuò)誤塊數(shù)、錯(cuò)誤比特?cái)?shù)和錯(cuò)誤率；(2)對(duì)特征量進(jìn)行處理后獲得運(yùn)算結(jié)果；(3)將特征量與運(yùn)算結(jié)果組成集合，并將集合中的子集作為支持向量回歸模型的輸入進(jìn)行支持向量回歸運(yùn)算后獲得與特征量對(duì)應(yīng)的閃存的壽命預(yù)測值。本發(fā)明可以預(yù)測閃存的剩余使用壽命，讓閃存存儲(chǔ)設(shè)備使用者在使用設(shè)備期間了解存儲(chǔ)器的損耗狀態(tài)，避免因存儲(chǔ)器單元失效而造成的數(shù)據(jù)流失。