一種用于在可靠性壽命測(cè)試中判斷組1(一種產(chǎn)品、組件或系統(tǒng))是否具有比組2更長(zhǎng)壽命的方法。該方法無(wú)需假設(shè)分布的形式,并且其數(shù)據(jù)分析方法可應(yīng)用于所有種類(lèi)的數(shù)據(jù)和分布。該方法提供了比參數(shù)方法更準(zhǔn)確的解決方案。在對(duì)雙峰、早期失效和失效機(jī)制預(yù)先檢查之后,本發(fā)明通過(guò)非參數(shù)方法采用具有良好精確度的數(shù)字方法;被測(cè)數(shù)據(jù)可以是經(jīng)終檢、區(qū)間或雙峰的,并不局限于完全類(lèi)型的簡(jiǎn)單情況。本發(fā)明可以用于確定所有類(lèi)型和級(jí)別上的可靠性測(cè)試的多樣性。本發(fā)明的方法基于可比性指標(biāo)來(lái)執(zhí)行確定,可比性指標(biāo)是通過(guò)對(duì)被比較的兩個(gè)組的可靠性函數(shù)之間的經(jīng)加權(quán)的差異求積分而導(dǎo)出的。若干指標(biāo)用于使可靠性可比性有效。其他指標(biāo)用于使我們的發(fā)明更靈活。
聲明:
“確定半導(dǎo)體IC可靠性可比性的基于知識(shí)的統(tǒng)計(jì)方法和系統(tǒng)” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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