本發(fā)明涉及解析硬盤SMART日志的方法、裝置、計算機設(shè)備及存儲介質(zhì);其中,方法,包括:獲取故障硬盤自檢生成的SMART日志,并將SMART日志保存至第一文件夾;對第一文件夾進(jìn)行解析,獲取故障硬盤的特征信息,并根據(jù)特征信息生成第二文件夾;根據(jù)第二文件夾中的特征信息生成故障硬盤的故障信息,并將故障信息上傳至數(shù)據(jù)庫;數(shù)據(jù)庫根據(jù)故障信息生成故障分析結(jié)果,并輸出故障分析結(jié)果。本發(fā)明能夠在較短的時間內(nèi)分析出大量硬盤失效的原因,從而提升硬盤產(chǎn)品質(zhì)量,能夠更好地滿足需求。
聲明:
“解析硬盤SMART日志的方法、裝置、計算機設(shè)備及存儲介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)