一種基于加速老化的電子互感器可靠性評估方法,包括如下步驟:1)建立試驗(yàn)回路;2)通過加速老化的方法,給所述試驗(yàn)回路持續(xù)施加應(yīng)力,所述應(yīng)力為:電壓、溫度、溫度變化或環(huán)境;3)如果發(fā)生導(dǎo)致電子式互感器失效的故障,詳細(xì)記錄失效的時(shí)間、地點(diǎn)、運(yùn)行條件,失效模式、設(shè)備失效前后的狀況及歷史紀(jì)錄,其中所述運(yùn)行條件包括各種應(yīng)力情況、異常情況、環(huán)境情況;4)根據(jù)失效模式分析失效機(jī)理和失效原因,并記錄在故障樹中。通過對產(chǎn)品進(jìn)行運(yùn)行中的失效模式和效應(yīng)分析,能夠?qū)?dǎo)致產(chǎn)品失效的機(jī)理和原因進(jìn)行分析,最終對產(chǎn)品進(jìn)行改進(jìn)和完善,使之更加安全可靠。
聲明:
“基于加速老化的電子式互感器的可靠性評估方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)