本發(fā)明公開了一種砷化鎵單片微波集成電路的可靠性評(píng)估方法,它包括如下步驟:對(duì)砷化鎵單片微波集成電路進(jìn)行分析從而獲得與
芯片有關(guān)的失效率和與封裝及外部環(huán)境有關(guān)的失效率;根據(jù)所述與芯片有關(guān)的失效率和與封裝及外部環(huán)境有關(guān)的失效率之和評(píng)估砷化鎵單片微波集成電路的可靠性程度。本發(fā)明為砷化鎵單片微波集成電路的失效率水平和可靠性評(píng)估提供了準(zhǔn)則,為確定砷化鎵單片微波集成電路可靠性指標(biāo),開展電子設(shè)備可靠性預(yù)計(jì)提供依據(jù)。
聲明:
“砷化鎵單片微波集成電路的可靠性評(píng)估方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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