本發(fā)明提供一種半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置的修復(fù)電路,所述修復(fù)電路包括:修復(fù)地址檢測(cè)電路,基于從存儲(chǔ)模塊輸出的多個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)來(lái)確定在所述存儲(chǔ)模塊中的失效的發(fā)生,并儲(chǔ)存與被確定為失效的存儲(chǔ)模塊相對(duì)應(yīng)的地址作為修復(fù)地址;以及反熔絲電路,接收來(lái)自所述修復(fù)地址檢測(cè)電路的所述修復(fù)地址,并將所述修復(fù)地址電編程來(lái)儲(chǔ)存編程地址。
聲明:
“半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置的修復(fù)電路和修復(fù)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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