本發(fā)明公開了一種具有多孔徑的電連接器接觸可靠性建模方法，首先建立接觸壓力與插針半徑之間的關(guān)系模型；然后分別計(jì)算接觸區(qū)所有接觸斑點(diǎn)的收縮電阻、膜層電阻，并結(jié)合接觸對(duì)自身的體電阻，建立接觸電阻與接觸壓力之間的關(guān)系模型；接著，通過對(duì)多孔徑電連接器的失效退化分析得到接觸電阻退化率與溫度以及接觸壓力等因素之間的關(guān)系表達(dá)式；最后計(jì)算多孔徑電連接器達(dá)到失效閾值的時(shí)間，借助試驗(yàn)得到電連接器的失效分布，通過失效分布得到最終所需要建立的多孔徑電連接器接觸可靠性模型。本發(fā)明解決了現(xiàn)有技術(shù)沒有專門針對(duì)多孔徑電連接器的壽命評(píng)估模型的缺陷。