本申請(qǐng)涉及一種備用電路分派方法、裝置、設(shè)備及介質(zhì),所述方法包括:執(zhí)行第一測(cè)試項(xiàng)目,獲取第一測(cè)試數(shù)據(jù),第一測(cè)試數(shù)據(jù)包括執(zhí)行第一測(cè)試項(xiàng)目期間獲取的失效位元的位置數(shù)據(jù);根據(jù)第一測(cè)試數(shù)據(jù)確定包括已分派的地域備用電路的數(shù)量和對(duì)應(yīng)的位置數(shù)據(jù)的第一次備用電路分派結(jié)果;執(zhí)行第二測(cè)試項(xiàng)目,獲取包括執(zhí)行第二測(cè)試項(xiàng)目期間獲取的失效位元的位置數(shù)據(jù)的第二測(cè)試數(shù)據(jù);當(dāng)執(zhí)行第二測(cè)試項(xiàng)目期間獲取的失效位元包括已分派的地域備用電路及已分派的全域備用電路的修補(bǔ)范圍之外的失效位元,且已分派完可分派的地域備用電路時(shí),根據(jù)第一測(cè)試數(shù)據(jù)和第二測(cè)試數(shù)據(jù)確定第二次備用電路分派結(jié)果。以提高備用電路的利用效率及存儲(chǔ)
芯片良率。
聲明:
“備用電路分派方法、裝置、設(shè)備及介質(zhì)” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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