本發(fā)明公開了一種基于事務(wù)類型激勵(lì)的驗(yàn)證方法,包括:獲取目標(biāo)特征向量;利用預(yù)先構(gòu)造的轉(zhuǎn)換工具將所述目標(biāo)特征向量轉(zhuǎn)換成對應(yīng)的目標(biāo)事務(wù)類型激勵(lì);利用所述目標(biāo)事務(wù)類型激勵(lì)對待測
芯片進(jìn)行仿真驗(yàn)證。與現(xiàn)有技術(shù)相比,本申請中僅需獲取目標(biāo)特征向量,即可利用轉(zhuǎn)換工具將目標(biāo)特征向量轉(zhuǎn)換成對應(yīng)的事務(wù)類型激勵(lì),進(jìn)而完成待測芯片的驗(yàn)證,而無需由人工編寫事務(wù)類型激勵(lì),從而大大降低了人工工作的復(fù)雜度和工作量,且由于特征向量較事務(wù)類型激勵(lì)而言,構(gòu)造工作非常簡單,因此,大大降低了出錯(cuò)率,進(jìn)一步降低了驗(yàn)證失效的幾率。
聲明:
“基于事務(wù)類型激勵(lì)的驗(yàn)證方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)