本發(fā)明提供一種用于診斷天線陣口徑幅相場的畸變位置的方法,首先是對近場數(shù)據(jù)進(jìn)行近場?平面波譜變換得到k空間的平面波譜分量,然后在k空間平面波譜實施探頭和單元的方向圖校正,最后進(jìn)行平面波譜?口徑場逆變換獲得口徑場分布。最后,為了獲得更為準(zhǔn)確數(shù)據(jù),需要進(jìn)行口徑場的重構(gòu),獲取口面上實際物理位置的幅相分布,從而判斷出口徑場或激勵電流發(fā)生畸變的位置以及所對應(yīng)的輻射單元,達(dá)到對天線進(jìn)行“診斷”的目的。本發(fā)明可以準(zhǔn)確定位天線失效單元位置,及時排查故障,節(jié)約大量測試時間,并且通過反演補(bǔ)償?shù)姆绞教岣叻较驁D質(zhì)量。另外,本發(fā)明利用快速傅立葉變換(FFT)作高效計算,因而具有較強(qiáng)的工程實用性。
聲明:
“用于診斷天線陣口徑幅相場的畸變位置的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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