1.本發(fā)明屬于電機(jī)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種電機(jī)的堵轉(zhuǎn)檢測方法、裝置及終端設(shè)備。

背景技術(shù)：

2.當(dāng)下新能源汽車的普及率越來越高，在電動汽車中，電機(jī)控制的重要性不言而喻，不管是用于驅(qū)動的有位置傳感器的主驅(qū)電機(jī)，還是用作各種泵的基于無位置傳感器的輔助類驅(qū)動電機(jī)，對電動汽車的正常運行都起著至關(guān)重要的作用，例如高壓水泵、油泵、氣泵等這些輔驅(qū)電機(jī)在發(fā)生堵轉(zhuǎn)的情況下，若不能及時進(jìn)行判斷保護(hù)，并上報上層控制器，將會影響新能源汽車的正常運行，嚴(yán)重時可能導(dǎo)致電機(jī)燒毀，車輛不能正常運行。

3.當(dāng)前對于無位置傳感器的車載永磁同步電機(jī)的堵轉(zhuǎn)判斷法主要有基于電機(jī)控制器硬件采樣信號的判斷法和基于軟件的判斷方法?；谟布杉盘柕呐袛喾ɡ缤ㄟ^一個特殊的硬件電路結(jié)合采集電流來判斷電機(jī)堵轉(zhuǎn)，但是該方法容易受到外界干擾信號的影響，進(jìn)而影響檢測精度和結(jié)果?；谲浖呐袛喾ㄍǔＰ枰ㄟ^獲取的定子電流角度和轉(zhuǎn)子磁鏈的角度差值，結(jié)合時間判斷電機(jī)是否處于堵轉(zhuǎn)狀態(tài)，該方法計算量較大，增加了處理器的負(fù)載率。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

4.有鑒于此，本發(fā)明實施例提供了一種電機(jī)的堵轉(zhuǎn)檢測方法、裝置及終端設(shè)備，以解決現(xiàn)有技術(shù)中電機(jī)堵轉(zhuǎn)判斷計算工作量大，過程復(fù)雜的問題。

5.本發(fā)明實施例的第一方面提供了一種電機(jī)的堵轉(zhuǎn)檢測方法，包括：

6.獲取目標(biāo)電機(jī)的三相電壓數(shù)據(jù)和三相電流數(shù)據(jù)；

7.對所述三相電壓數(shù)據(jù)和所述三相電流數(shù)據(jù)進(jìn)行clark變換，得到αβ坐標(biāo)系下的電壓數(shù)據(jù)和電流數(shù)據(jù)；

8.將αβ坐標(biāo)系下的電壓數(shù)據(jù)和電流數(shù)據(jù)輸入磁鏈估算器，得到磁通數(shù)據(jù)；

9.將所述磁通數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為磁通標(biāo)幺值，并基于所述磁通標(biāo)幺值和預(yù)設(shè)數(shù)值范圍確定所述目標(biāo)電機(jī)是否發(fā)生堵轉(zhuǎn)。

10.本發(fā)明實施例的第二方面提供了一種電機(jī)的堵轉(zhuǎn)檢測裝置，包括：

11.數(shù)據(jù)獲取模塊，用于獲取目標(biāo)電機(jī)的三相電壓數(shù)據(jù)和三相電流數(shù)據(jù)；

12.坐標(biāo)變換模塊，用于對所述三相電壓數(shù)據(jù)和所述三相電流數(shù)據(jù)進(jìn)行clark變換，得到αβ坐標(biāo)系下的電壓數(shù)據(jù)和電流數(shù)據(jù)；

13.磁通數(shù)據(jù)計算模塊，用于將αβ坐標(biāo)系下的電壓數(shù)據(jù)和電流數(shù)據(jù)輸入磁鏈估算器，得到磁通數(shù)據(jù)；

14.堵轉(zhuǎn)檢測模塊，用于將所述磁通數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為磁通標(biāo)幺值，并基于所述磁通標(biāo)幺值和預(yù)設(shè)數(shù)值范圍確定所述目標(biāo)電機(jī)是否發(fā)生堵轉(zhuǎn)。

15.本發(fā)明實施例的第三方面提供了一種終端設(shè)備，包括存儲器、處理器以及存儲在所述存儲器中并可在所述處理器上運行的計算機(jī)程序，所述處理器執(zhí)行所述計算機(jī)程序時

實現(xiàn)如上所述電機(jī)的堵轉(zhuǎn)檢測方法的步驟。

16.本發(fā)明實施例的第四方面提供了一種計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，所述計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)存儲有計算機(jī)程序，所述計算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)如上所述電機(jī)的堵轉(zhuǎn)檢測方法的步驟。

17.本發(fā)明實施例與現(xiàn)有技術(shù)相比存在的有益效果是：本發(fā)明實施例首先獲取目標(biāo)電機(jī)的三相電壓數(shù)據(jù)和三相電流數(shù)據(jù)；然后對所述三相電壓數(shù)據(jù)和所述三相電流數(shù)據(jù)進(jìn)行clark變換，得到αβ坐標(biāo)系下的電壓數(shù)據(jù)和電流數(shù)據(jù)；將αβ坐標(biāo)系下的電壓數(shù)據(jù)和電流數(shù)據(jù)輸入磁鏈估算器，得到磁通數(shù)據(jù)；最后將所述磁通數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為磁通標(biāo)幺值，并基于所述磁通標(biāo)幺值和預(yù)設(shè)數(shù)值范圍確定所述目標(biāo)電機(jī)是否發(fā)生堵轉(zhuǎn)。本實施例能夠直接通過磁通估算器計算的磁通數(shù)據(jù)大小來確定電機(jī)是否堵轉(zhuǎn)，不需要額外的硬件采集和處理電路，且計算量小，從而解決電機(jī)堵轉(zhuǎn)檢測過程復(fù)雜的問題，提高電機(jī)堵轉(zhuǎn)的檢測效率。

附圖說明

18.為了更清楚地說明本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

19.圖1是本發(fā)明實施例提供的電機(jī)的堵轉(zhuǎn)檢測方法的流程示意圖；

20.圖2是本發(fā)明實施例提供的磁鏈估算分析用的永磁同步電機(jī)瞬態(tài)等效電路示意圖；

21.圖3是本發(fā)明實施例提供的電機(jī)的堵轉(zhuǎn)檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；

22.圖4是本發(fā)明實施例提供的終端設(shè)備的示意圖。

具體實施方式

23.以下描述中，為了說明而不是為了限定，提出了諸如特定系統(tǒng)結(jié)構(gòu)、技術(shù)之類的具體細(xì)節(jié)，以便透徹理解本發(fā)明實施例。然而，本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)清楚，在沒有這些具體細(xì)節(jié)的其它實施例中也可以實現(xiàn)本發(fā)明。在其它情況中，省略對眾所周知的系統(tǒng)、裝置、電路以及方法的詳細(xì)說明，以免不必要的細(xì)節(jié)妨礙本發(fā)明的描述。

24.為了說明本發(fā)明所述的技術(shù)方案，下面通過具體實施例來進(jìn)行說明。

25.在一個實施例中，如圖1所示，圖1示出了本實施例提供的一種電機(jī)的堵轉(zhuǎn)檢測方法的實現(xiàn)流程，其過程詳述如下：

26.s101：獲取目標(biāo)電機(jī)的三相電壓數(shù)據(jù)和三相電流數(shù)據(jù)。

27.在本實施例中，目標(biāo)電機(jī)可以為永磁同步電機(jī)，本實施例的執(zhí)行主體為目標(biāo)電機(jī)的電機(jī)控制器，電機(jī)控制器分別與電機(jī)及上層控制器連接，電機(jī)控制器用于獲取上層控制器的控制指令，并基于控制指令控制目標(biāo)電機(jī)，電機(jī)控制器還可以獲取電機(jī)反饋的數(shù)據(jù)，并上傳反饋數(shù)據(jù)至上層控制器。

28.具體地，電機(jī)控制器通過數(shù)據(jù)采集模塊采集目標(biāo)電機(jī)的三相電壓數(shù)據(jù)和三相電流數(shù)據(jù)。電機(jī)控制器控制方式為無傳感的空間矢量控制方式。堵轉(zhuǎn)檢測需結(jié)合電機(jī)運行狀態(tài)進(jìn)行判斷，可以在電機(jī)和電機(jī)控制器的額定工作電壓下進(jìn)行。

29.s102：對所述三相電壓數(shù)據(jù)和所述三相電流數(shù)據(jù)進(jìn)行clark變換，得到αβ坐標(biāo)系下的電壓數(shù)據(jù)和電流數(shù)據(jù)。

30.在本實施例中，對三相電壓數(shù)據(jù)和三相電流數(shù)據(jù)進(jìn)行clark變換，得到a軸電壓數(shù)據(jù)和β軸電壓數(shù)據(jù)，a軸電流數(shù)據(jù)和β軸電流數(shù)據(jù)。

31.s103：將αβ坐標(biāo)系下的電壓數(shù)據(jù)和電流數(shù)據(jù)輸入磁鏈估算器，得到磁通數(shù)據(jù)。

32.在本實施例中，磁鏈估算器工作在電機(jī)控制器的主中斷函數(shù)中，以實現(xiàn)快速準(zhǔn)確的檢測。

33.在一個實施例中，上述s103的具體實現(xiàn)流程包括：

34.s201：獲取所述目標(biāo)電機(jī)的本體數(shù)據(jù)；

35.s202：根據(jù)所述目標(biāo)電機(jī)的本體數(shù)據(jù)，所述電壓數(shù)據(jù)和所述電流數(shù)據(jù)由αβ坐標(biāo)系轉(zhuǎn)換至dq坐標(biāo)系。

36.具體地，如圖2所示，圖2示出了磁鏈估算分析用的永磁同步電機(jī)瞬態(tài)等效電路圖，圖2中，wr表示轉(zhuǎn)子電角速度，ld表示d軸電感，id表示d軸電流，ψaf表示永磁體產(chǎn)生的電樞磁鏈；由電機(jī)瞬態(tài)等效電路可知，在正弦穩(wěn)態(tài)下，dq坐標(biāo)系下的電壓分量方程為其中，ud表示所述d軸電壓，id表示所述d軸電流，uq表示所述q軸電壓，iq表示所述q軸電流，rs
表示目標(biāo)電機(jī)的定子電阻，lq表示q軸電感，ld表示d軸電感，e0表示感應(yīng)電動勢，wr表示轉(zhuǎn)子電角度。

37.s203：將所述目標(biāo)電機(jī)的本體數(shù)據(jù)、所述dq坐標(biāo)系下的電壓數(shù)據(jù)和電流數(shù)據(jù)輸入磁通估算公式，得到所述磁通數(shù)據(jù)。

38.在一個實施例中，所述本體數(shù)據(jù)包括目標(biāo)電機(jī)的定子電阻；所述磁通數(shù)據(jù)包括q軸磁通數(shù)據(jù)；

39.所述磁通估算公式為：

40.ψq＝∫(uq?rs*iq)dt；

41.其中，ψq表示所述q軸磁通數(shù)據(jù)，uq表示所述q軸電壓，iq表示所述q軸電流，rs表示所述目標(biāo)電機(jī)的定子電阻。

42.在本實施例中，q軸磁通數(shù)據(jù)為磁通中表示轉(zhuǎn)矩的部分，因此本實施例提取q軸磁通數(shù)據(jù)用來進(jìn)行堵轉(zhuǎn)檢測，能夠提高堵轉(zhuǎn)檢測的準(zhǔn)確性。

43.s104：將所述磁通數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為磁通標(biāo)幺值，并基于所述磁通標(biāo)幺值和預(yù)設(shè)數(shù)值范圍確定所述目標(biāo)電機(jī)是否發(fā)生堵轉(zhuǎn)。

44.在一個實施例中，上述s104的具體實現(xiàn)流程包括：

45.s301：判斷當(dāng)前時刻的磁通標(biāo)幺值是否在所述預(yù)設(shè)數(shù)值范圍內(nèi)；

46.s302：若當(dāng)前時刻的磁通標(biāo)幺值在所述預(yù)設(shè)數(shù)值范圍內(nèi)，則將當(dāng)前時刻作為起點，判斷所述起點后預(yù)設(shè)時間內(nèi)得到的磁通標(biāo)幺值是否均在所述預(yù)設(shè)數(shù)值范圍內(nèi)；

47.s303：若所述起點后預(yù)設(shè)時間內(nèi)得到的磁通標(biāo)幺值均在所述預(yù)設(shè)數(shù)值范圍內(nèi)，則判定所述目標(biāo)電機(jī)發(fā)生堵轉(zhuǎn)。

48.在本實施例中，在獲取到q軸磁通數(shù)據(jù)之后，將q軸磁通數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為標(biāo)幺值。

49.在本實施例中，預(yù)設(shè)數(shù)值范圍為前期通過實驗獲取的數(shù)值范圍。

50.具體地，預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)范圍的獲取過程包括：

51.在系統(tǒng)額定電壓下，電機(jī)控制器接收上層控制器的指令，使電機(jī)控制器處于待機(jī)、運行、停止等狀態(tài)。當(dāng)電機(jī)控制器處于運行狀態(tài)時，借助電機(jī)本體參數(shù)，在電機(jī)控制器的主函數(shù)中，磁鏈估算器實時估算轉(zhuǎn)矩磁通a。由電機(jī)的本體數(shù)據(jù)可知電機(jī)額定轉(zhuǎn)速n0和最高轉(zhuǎn)速nmax。依據(jù)最高轉(zhuǎn)速nmax把電機(jī)轉(zhuǎn)速分為高低中三個轉(zhuǎn)速段，代表轉(zhuǎn)速分別是低轉(zhuǎn)速n1，中轉(zhuǎn)速n2，高轉(zhuǎn)速n3。然后確定堵轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)矩磁通的大致范圍。給定低轉(zhuǎn)速指令n1，記錄此時的堵轉(zhuǎn)反饋磁鏈標(biāo)幺值a1；給定中轉(zhuǎn)速指令n2，記錄此時的堵轉(zhuǎn)反饋磁鏈標(biāo)幺值a2；給定高轉(zhuǎn)速指令n3，記錄此時的堵轉(zhuǎn)反饋磁鏈標(biāo)幺值a3，在額定轉(zhuǎn)速n0和最高轉(zhuǎn)速nmax下也記錄此時的堵轉(zhuǎn)反饋磁鏈標(biāo)幺值a0及a4，進(jìn)而求得這幾種情況下的磁通均值a。重復(fù)以上步驟，得出a的區(qū)間范圍為[amin，amax]，并將a的區(qū)間范圍作為預(yù)設(shè)數(shù)值范圍。

[0052]

在一個實施例中，在上述s104之后，所述方法還包括：

[0053]

若判定所述目標(biāo)電機(jī)發(fā)生堵轉(zhuǎn)，則觸發(fā)所述目標(biāo)電機(jī)的堵轉(zhuǎn)保護(hù)。

[0054]

在本實施例中，電機(jī)控制器接收上層控制器的運行指令，并根據(jù)運行指令控制電機(jī)運行，在電機(jī)處于運行狀態(tài)下，磁鏈估算器實時估算磁通標(biāo)幺值a，并進(jìn)行判斷，若a不在[amin，amax]內(nèi)，則返回繼續(xù)判斷，若a在[amin，amax]內(nèi)，則觸發(fā)計時器開始計時，確定a在[amin，amax]內(nèi)的持續(xù)時間，若持續(xù)時間t不大于預(yù)設(shè)時間t0，則重新返回磁通判斷步驟繼續(xù)進(jìn)行磁通判斷，若否則則觸發(fā)電機(jī)堵轉(zhuǎn)故障標(biāo)志位，觸發(fā)堵轉(zhuǎn)保護(hù)，并通過can通信及時向上層控制器上報堵轉(zhuǎn)故障，上層控制器的堵轉(zhuǎn)保護(hù)策略也可以及時干預(yù)，保護(hù)整個系統(tǒng)，使其處于可控狀態(tài)。

[0055]

在本實施例中，上述過程中采集的數(shù)據(jù)及傳輸?shù)男盘柧扇∮布綦x的措施。

[0056]

從上述實施例可知，本發(fā)明實施例首先獲取目標(biāo)電機(jī)的三相電壓數(shù)據(jù)和三相電流數(shù)據(jù)；然后對所述三相電壓數(shù)據(jù)和所述三相電流數(shù)據(jù)進(jìn)行clark變換，得到αβ坐標(biāo)系下的電壓數(shù)據(jù)和電流數(shù)據(jù)；將αβ坐標(biāo)系下的電壓數(shù)據(jù)和電流數(shù)據(jù)輸入磁鏈估算器，得到磁通數(shù)據(jù)；最后將所述磁通數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為磁通標(biāo)幺值，并基于所述磁通標(biāo)幺值和預(yù)設(shè)數(shù)值范圍確定所述目標(biāo)電機(jī)是否發(fā)生堵轉(zhuǎn)。本實施例能夠直接通過磁通估算器計算的磁通數(shù)據(jù)大小來確定電機(jī)是否堵轉(zhuǎn)，不需要額外的硬件采集和處理電路，且計算量小，從而解決了電機(jī)堵轉(zhuǎn)檢測過程復(fù)雜的問題，提高電機(jī)堵轉(zhuǎn)的檢測效率。

[0057]

應(yīng)理解，上述實施例中各步驟的序號的大小并不意味著執(zhí)行順序的先后，各過程的執(zhí)行順序應(yīng)以其功能和內(nèi)在邏輯確定，而不應(yīng)對本發(fā)明實施例的實施過程構(gòu)成任何限定。

[0058]

在一個實施例中，如圖3所示，圖3示出了本實施例提供的電機(jī)的堵轉(zhuǎn)檢測裝置100的結(jié)構(gòu)，其包括：

[0059]

數(shù)據(jù)獲取模塊110，用于獲取目標(biāo)電機(jī)的三相電壓數(shù)據(jù)和三相電流數(shù)據(jù)；

[0060]

坐標(biāo)變換模塊120，用于對所述三相電壓數(shù)據(jù)和所述三相電流數(shù)據(jù)進(jìn)行clark變換，得到αβ坐標(biāo)系下的電壓數(shù)據(jù)和電流數(shù)據(jù)；

[0061]

磁通數(shù)據(jù)計算模塊130，用于將αβ坐標(biāo)系下的電壓數(shù)據(jù)和電流數(shù)據(jù)輸入磁鏈估算器，得到磁通數(shù)據(jù)；

[0062]

堵轉(zhuǎn)檢測模塊140，用于將所述磁通數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為磁通標(biāo)幺值，并基于所述磁通標(biāo)幺值和預(yù)設(shè)數(shù)值范圍確定所述目標(biāo)電機(jī)是否發(fā)生堵轉(zhuǎn)。

[0063]

在一個實施例中，所述磁通數(shù)據(jù)計算模塊130包括：

[0064]

本體數(shù)據(jù)獲取單元，用于獲取所述目標(biāo)電機(jī)的本體數(shù)據(jù)；

[0065]

數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元，用于根據(jù)所述目標(biāo)電機(jī)的本體數(shù)據(jù)，所述電壓數(shù)據(jù)和所述電流數(shù)據(jù)由αβ坐標(biāo)系轉(zhuǎn)換至dq坐標(biāo)系；

[0066]

磁通數(shù)據(jù)計算單元，用于將所述目標(biāo)電機(jī)的本體數(shù)據(jù)、所述dq坐標(biāo)系下的電壓數(shù)據(jù)和電流數(shù)據(jù)輸入磁通估算公式，得到所述磁通數(shù)據(jù)。

[0067]

在一個實施例中，所述本體數(shù)據(jù)包括目標(biāo)電機(jī)的定子電阻；所述磁通數(shù)據(jù)包括q軸磁通數(shù)據(jù)；

[0068]

所述磁通估算公式為：

[0069]

ψq＝∫(uq?rs*iq)dt；

[0070]

其中，ψq表示所述q軸磁通數(shù)據(jù)，uq表示所述q軸電壓，iq表示所述q軸電流，rs表示所述目標(biāo)電機(jī)的定子電阻。

[0071]

在一個實施例中，堵轉(zhuǎn)檢測模塊140包括：

[0072]

標(biāo)幺值判斷單元，用于判斷當(dāng)前時刻的磁通標(biāo)幺值是否在所述預(yù)設(shè)數(shù)值范圍內(nèi)；

[0073]

持續(xù)判斷單元，用于若當(dāng)前時刻的磁通標(biāo)幺值在所述預(yù)設(shè)數(shù)值范圍內(nèi)，則將當(dāng)前時刻作為起點，判斷所述起點后預(yù)設(shè)時間內(nèi)得到的磁通標(biāo)幺值是否均在所述預(yù)設(shè)數(shù)值范圍內(nèi)；

[0074]

堵轉(zhuǎn)判斷單元，用于若所述起點后預(yù)設(shè)時間內(nèi)得到的磁通標(biāo)幺值均在所述預(yù)設(shè)數(shù)值范圍內(nèi)，則判定所述目標(biāo)電機(jī)發(fā)生堵轉(zhuǎn)。

[0075]

在一個實施例中，本實施例提供的電機(jī)的堵轉(zhuǎn)檢測裝置100還包括：

[0076]

堵轉(zhuǎn)保護(hù)觸發(fā)模塊，用于若判定所述目標(biāo)電機(jī)發(fā)生堵轉(zhuǎn)，則觸發(fā)所述目標(biāo)電機(jī)的堵轉(zhuǎn)保護(hù)。

[0077]

本發(fā)明實施例首先獲取目標(biāo)電機(jī)的三相電壓數(shù)據(jù)和三相電流數(shù)據(jù)；然后對所述三相電壓數(shù)據(jù)和所述三相電流數(shù)據(jù)進(jìn)行clark變換，得到αβ坐標(biāo)系下的電壓數(shù)據(jù)和電流數(shù)據(jù)；將αβ坐標(biāo)系下的電壓數(shù)據(jù)和電流數(shù)據(jù)輸入磁鏈估算器，得到磁通數(shù)據(jù)；最后將所述磁通數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為磁通標(biāo)幺值，并基于所述磁通標(biāo)幺值和預(yù)設(shè)數(shù)值范圍確定所述目標(biāo)電機(jī)是否發(fā)生堵轉(zhuǎn)。本實施例能夠直接通過磁通估算器計算的磁通數(shù)據(jù)大小來確定電機(jī)是否堵轉(zhuǎn)，不需要額外的硬件采集和處理電路，且計算量小，從而解決了電機(jī)堵轉(zhuǎn)檢測過程復(fù)雜的問題，提高電機(jī)堵轉(zhuǎn)的檢測效率。

[0078]

圖4是本發(fā)明一實施例提供的終端設(shè)備的示意圖。如圖4所示，該實施例的終端設(shè)備4包括：處理器40、存儲器41以及存儲在所述存儲器41中并可在所述處理器40上運行的計算機(jī)程序42。所述處理器40執(zhí)行所述計算機(jī)程序42時實現(xiàn)上述各個電機(jī)的堵轉(zhuǎn)檢測方法實施例中的步驟，例如圖1所示的步驟101至104?；蛘?，所述處理器40執(zhí)行所述計算機(jī)程序42時實現(xiàn)上述各裝置實施例中各模塊/單元的功能，例如圖3所示模塊110至140的功能。

[0079]

所述計算機(jī)程序42可以被分割成一個或多個模塊/單元，所述一個或者多個模塊/單元被存儲在所述存儲器41中，并由所述處理器40執(zhí)行，以完成本發(fā)明。所述一個或多個模塊/單元可以是能夠完成特定功能的一系列計算機(jī)程序指令段，該指令段用于描述所述計算機(jī)程序42在所述終端設(shè)備4中的執(zhí)行過程。

[0080]

所述終端設(shè)備4可以是桌上型計算機(jī)、筆記本、掌上電腦及云端服務(wù)器等計算設(shè)

備。所述終端設(shè)備可包括，但不僅限于，處理器40、存儲器41。本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解，圖4僅僅是終端設(shè)備4的示例，并不構(gòu)成對終端設(shè)備4的限定，可以包括比圖示更多或更少的部件，或者組合某些部件，或者不同的部件，例如所述終端設(shè)備還可以包括輸入輸出設(shè)備、網(wǎng)絡(luò)接入設(shè)備、總線等。

[0081]

所稱處理器40可以是中央處理單元(central processing unit，cpu)，還可以是其他通用處理器、數(shù)字信號處理器(digital signal processor，dsp)、專用集成電路(application specific integrated circuit，asic)、現(xiàn)成可編程門陣列(field

?

programmable gate array，fpga)或者其他可編程邏輯器件、分立門或者晶體管邏輯器件、分立硬件組件等。通用處理器可以是微處理器或者該處理器也可以是任何常規(guī)的處理器等。

[0082]

所述存儲器41可以是所述終端設(shè)備4的內(nèi)部存儲單元，例如終端設(shè)備4的硬盤或內(nèi)存。所述存儲器41也可以是所述終端設(shè)備4的外部存儲設(shè)備，例如所述終端設(shè)備4上配備的插接式硬盤，智能存儲卡(smart media card,smc)，安全數(shù)字(secure digital,sd)卡，閃存卡(flash card)等。進(jìn)一步地，所述存儲器41還可以既包括所述終端設(shè)備4的內(nèi)部存儲單元也包括外部存儲設(shè)備。所述存儲器41用于存儲所述計算機(jī)程序以及所述終端設(shè)備所需的其他程序和數(shù)據(jù)。所述存儲器41還可以用于暫時地存儲已經(jīng)輸出或者將要輸出的數(shù)據(jù)。

[0083]

所屬領(lǐng)域的技術(shù)人員可以清楚地了解到，為了描述的方便和簡潔，僅以上述各功能單元、模塊的劃分進(jìn)行舉例說明，實際應(yīng)用中，可以根據(jù)需要而將上述功能分配由不同的功能單元、模塊完成，即將所述裝置的內(nèi)部結(jié)構(gòu)劃分成不同的功能單元或模塊，以完成以上描述的全部或者部分功能。實施例中的各功能單元、模塊可以集成在一個處理單元中，也可以是各個單元單獨物理存在，也可以兩個或兩個以上單元集成在一個單元中，上述集成的單元既可以采用硬件的形式實現(xiàn)，也可以采用軟件功能單元的形式實現(xiàn)。另外，各功能單元、模塊的具體名稱也只是為了便于相互區(qū)分，并不用于限制本申請的保護(hù)范圍。上述系統(tǒng)中單元、模塊的具體工作過程，可以參考前述方法實施例中的對應(yīng)過程，在此不再贅述。

[0084]

在上述實施例中，對各個實施例的描述都各有側(cè)重，某個實施例中沒有詳述或記載的部分，可以參見其它實施例的相關(guān)描述。

[0085]

本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以意識到，結(jié)合本文中所公開的實施例描述的各示例的單元及算法步驟，能夠以電子硬件、或者計算機(jī)軟件和電子硬件的結(jié)合來實現(xiàn)。這些功能究竟以硬件還是軟件方式來執(zhí)行，取決于技術(shù)方案的特定應(yīng)用和設(shè)計約束條件。專業(yè)技術(shù)人員可以對每個特定的應(yīng)用來使用不同方法來實現(xiàn)所描述的功能，但是這種實現(xiàn)不應(yīng)認(rèn)為超出本發(fā)明的范圍。

[0086]

在本發(fā)明所提供的實施例中，應(yīng)該理解到，所揭露的裝置/終端設(shè)備和方法，可以通過其它的方式實現(xiàn)。例如，以上所描述的裝置/終端設(shè)備實施例僅僅是示意性的，例如，所述模塊或單元的劃分，僅僅為一種邏輯功能劃分，實際實現(xiàn)時可以有另外的劃分方式，例如多個單元或組件可以結(jié)合或者可以集成到另一個系統(tǒng)，或一些特征可以忽略，或不執(zhí)行。另一點，所顯示或討論的相互之間的耦合或直接耦合或通訊連接可以是通過一些接口，裝置或單元的間接耦合或通訊連接，可以是電性，機(jī)械或其它的形式。

[0087]

所述作為分離部件說明的單元可以是或者也可以不是物理上分開的，作為單元顯示的部件可以是或者也可以不是物理單元，即可以位于一個地方，或者也可以分布到多個

網(wǎng)絡(luò)單元上?？梢愿鶕?jù)實際的需要選擇其中的部分或者全部單元來實現(xiàn)本實施例方案的目的。

[0088]

另外，在本發(fā)明各個實施例中的各功能單元可以集成在一個處理單元中，也可以是各個單元單獨物理存在，也可以兩個或兩個以上單元集成在一個單元中。上述集成的單元既可以采用硬件的形式實現(xiàn)，也可以采用軟件功能單元的形式實現(xiàn)。

[0089]

所述集成的模塊/單元如果以軟件功能單元的形式實現(xiàn)并作為獨立的產(chǎn)品銷售或使用時，可以存儲在一個計算機(jī)可讀取存儲介質(zhì)中?；谶@樣的理解，本發(fā)明實現(xiàn)上述實施例方法中的全部或部分流程，也可以通過計算機(jī)程序來指令相關(guān)的硬件來完成，所述的計算機(jī)程序可存儲于一計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)中，該計算機(jī)程序在被處理器執(zhí)行時，可實現(xiàn)上述各個方法實施例的步驟。。其中，所述計算機(jī)程序包括計算機(jī)程序代碼，所述計算機(jī)程序代碼可以為源代碼形式、對象代碼形式、可執(zhí)行文件或某些中間形式等。所述計算機(jī)可讀介質(zhì)可以包括：能夠攜帶所述計算機(jī)程序代碼的任何實體或裝置、記錄介質(zhì)、u盤、移動硬盤、磁碟、光盤、計算機(jī)存儲器、只讀存儲器(rom，read

?

only memory)、隨機(jī)存取存儲器(ram，random access memory)、電載波信號、電信信號以及軟件分發(fā)介質(zhì)等。需要說明的是，所述計算機(jī)可讀介質(zhì)包含的內(nèi)容可以根據(jù)司法管轄區(qū)內(nèi)立法和專利實踐的要求進(jìn)行適當(dāng)?shù)脑鰷p，例如在某些司法管轄區(qū)，根據(jù)立法和專利實踐，計算機(jī)可讀介質(zhì)不包括電載波信號和電信信號。

[0090]

以上所述實施例僅用以說明本發(fā)明的技術(shù)方案，而非對其限制；盡管參照前述實施例對本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)的說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解：其依然可以對前述各實施例所記載的技術(shù)方案進(jìn)行修改，或者對其中部分技術(shù)特征進(jìn)行等同替換；而這些修改或者替換，并不使相應(yīng)技術(shù)方案的本質(zhì)脫離本發(fā)明各實施例技術(shù)方案的精神和范圍，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。技術(shù)特征：

1.一種電機(jī)的堵轉(zhuǎn)檢測方法，其特征在于，包括：獲取目標(biāo)電機(jī)的三相電壓數(shù)據(jù)和三相電流數(shù)據(jù)；對所述三相電壓數(shù)據(jù)和所述三相電流數(shù)據(jù)進(jìn)行clark變換，得到αβ坐標(biāo)系下的電壓數(shù)據(jù)和電流數(shù)據(jù)；將αβ坐標(biāo)系下的電壓數(shù)據(jù)和電流數(shù)據(jù)輸入磁鏈估算器，得到磁通數(shù)據(jù)；將所述磁通數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為磁通標(biāo)幺值，并基于所述磁通標(biāo)幺值和預(yù)設(shè)數(shù)值范圍確定所述目標(biāo)電機(jī)是否發(fā)生堵轉(zhuǎn)。2.如權(quán)利要求1所述的電機(jī)的堵轉(zhuǎn)檢測方法，其特征在于，所述將αβ坐標(biāo)系下的電壓數(shù)據(jù)和電流數(shù)據(jù)輸入磁鏈估算器，得到磁通數(shù)據(jù)，包括：獲取所述目標(biāo)電機(jī)的本體數(shù)據(jù)；根據(jù)所述目標(biāo)電機(jī)的本體數(shù)據(jù)，將所述電壓數(shù)據(jù)和所述電流數(shù)據(jù)由αβ坐標(biāo)系轉(zhuǎn)換至dq坐標(biāo)系；將所述目標(biāo)電機(jī)的本體數(shù)據(jù)、所述dq坐標(biāo)系下的電壓數(shù)據(jù)和電流數(shù)據(jù)輸入磁通估算公式，得到所述磁通數(shù)據(jù)。3.如權(quán)利要求2所述的電機(jī)的堵轉(zhuǎn)檢測方法，其特征在于，所述本體數(shù)據(jù)包括目標(biāo)電機(jī)的定子電阻；所述磁通數(shù)據(jù)包括q軸磁通數(shù)據(jù)；所述磁通估算公式為：ψ

q

＝∫(u

q

?

r

s

*i

q

)dt；其中，ψ

q

表示所述q軸磁通數(shù)據(jù)，u

q

表示所述q軸電壓，i

q

表示所述q軸電流，r

s

表示所述目標(biāo)電機(jī)的定子電阻。4.如權(quán)利要求1所述的電機(jī)的堵轉(zhuǎn)檢測方法，其特征在于，所述基于所述磁通標(biāo)幺值和預(yù)設(shè)數(shù)值范圍確定所述目標(biāo)電機(jī)是否發(fā)生堵轉(zhuǎn)，包括：判斷當(dāng)前時刻的磁通標(biāo)幺值是否在所述預(yù)設(shè)數(shù)值范圍內(nèi)；若當(dāng)前時刻的磁通標(biāo)幺值在所述預(yù)設(shè)數(shù)值范圍內(nèi)，則將當(dāng)前時刻作為起點，判斷所述起點后預(yù)設(shè)時間內(nèi)得到的磁通標(biāo)幺值是否均在所述預(yù)設(shè)數(shù)值范圍內(nèi)；若所述起點后預(yù)設(shè)時間內(nèi)得到的磁通標(biāo)幺值均在所述預(yù)設(shè)數(shù)值范圍內(nèi)，則判定所述目標(biāo)電機(jī)發(fā)生堵轉(zhuǎn)。5.如權(quán)利要求1所述的電機(jī)的堵轉(zhuǎn)檢測方法，其特征在于，在所述基于所述磁通標(biāo)幺值和預(yù)設(shè)數(shù)值范圍確定所述目標(biāo)電機(jī)是否發(fā)生堵轉(zhuǎn)之后，所述方法還包括：若判定所述目標(biāo)電機(jī)發(fā)生堵轉(zhuǎn)，則觸發(fā)所述目標(biāo)電機(jī)的堵轉(zhuǎn)保護(hù)。6.一種電機(jī)的堵轉(zhuǎn)檢測裝置，其特征在于，包括：數(shù)據(jù)獲取模塊，用于獲取目標(biāo)電機(jī)的三相電壓數(shù)據(jù)和三相電流數(shù)據(jù)；坐標(biāo)變換模塊，用于對所述三相電壓數(shù)據(jù)和所述三相電流數(shù)據(jù)進(jìn)行clark變換，得到αβ坐標(biāo)系下的電壓數(shù)據(jù)和電流數(shù)據(jù)；磁通數(shù)據(jù)計算模塊，用于將αβ坐標(biāo)系下的電壓數(shù)據(jù)和電流數(shù)據(jù)輸入磁鏈估算器，得到磁通數(shù)據(jù)；堵轉(zhuǎn)檢測模塊，用于將所述磁通數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為磁通標(biāo)幺值，并基于所述磁通標(biāo)幺值和預(yù)設(shè)數(shù)值范圍確定所述目標(biāo)電機(jī)是否發(fā)生堵轉(zhuǎn)。7.如權(quán)利要求6所述的電機(jī)的堵轉(zhuǎn)檢測裝置，其特征在于，所述磁通數(shù)據(jù)計算模塊包

括：本體數(shù)據(jù)獲取單元，用于獲取所述目標(biāo)電機(jī)的本體數(shù)據(jù)；數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元，用于根據(jù)所述目標(biāo)電機(jī)的本體數(shù)據(jù)，所述電壓數(shù)據(jù)和所述電流數(shù)據(jù)由αβ坐標(biāo)系轉(zhuǎn)換至dq坐標(biāo)系；磁通數(shù)據(jù)計算單元，用于將所述目標(biāo)電機(jī)的本體數(shù)據(jù)、所述dq坐標(biāo)系下的電壓數(shù)據(jù)和電流數(shù)據(jù)輸入磁通估算公式，得到所述磁通數(shù)據(jù)。8.如權(quán)利要求7所述的電機(jī)的堵轉(zhuǎn)檢測裝置，其特征在于，所述本體數(shù)據(jù)包括目標(biāo)電機(jī)的定子電阻；所述磁通數(shù)據(jù)包括q軸磁通數(shù)據(jù)；所述磁通估算公式為：ψ

q

＝∫(u

q

?

r

s

*i

q

)dt；其中，ψ

q

表示所述q軸磁通數(shù)據(jù)，u

q

表示所述q軸電壓，i

q

表示所述q軸電流，r

s

表示所述目標(biāo)電機(jī)的定子電阻。9.一種終端設(shè)備，包括存儲器、處理器以及存儲在所述存儲器中并可在所述處理器上運行的計算機(jī)程序，其特征在于，所述處理器執(zhí)行所述計算機(jī)程序時實現(xiàn)如權(quán)利要求1至5任一項所述方法的步驟。10.一種計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，所述計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)存儲有計算機(jī)程序，其特征在于，所述計算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)如權(quán)利要求1至5任一項所述方法的步驟。

技術(shù)總結(jié)

本發(fā)明適用于電機(jī)技術(shù)領(lǐng)域，提供了一種電機(jī)的堵轉(zhuǎn)檢測方法、裝置及終端設(shè)備，該方法包括：獲取目標(biāo)電機(jī)的三相電壓數(shù)據(jù)和三相電流數(shù)據(jù)；對三相電壓數(shù)據(jù)和三相電流數(shù)據(jù)進(jìn)行Clark變換，得到αβ坐標(biāo)系下的電壓數(shù)據(jù)和電流數(shù)據(jù)；將αβ坐標(biāo)系下的電壓數(shù)據(jù)和電流數(shù)據(jù)輸入磁鏈估算器，得到磁通數(shù)據(jù)；將所述磁通數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為磁通標(biāo)幺值，并基于所述磁通標(biāo)幺值和預(yù)設(shè)數(shù)值范圍確定所述目標(biāo)電機(jī)是否發(fā)生堵轉(zhuǎn)。本申請能夠直接通過磁通估算器計算的磁通數(shù)據(jù)大小來確定電機(jī)是否堵轉(zhuǎn)，不需要額外的硬件采集和處理電路，且計算量小，從而解決電機(jī)堵轉(zhuǎn)檢測過程復(fù)雜的問題，提高電機(jī)堵轉(zhuǎn)的檢測效率。提高電機(jī)堵轉(zhuǎn)的檢測效率。提高電機(jī)堵轉(zhuǎn)的檢測效率。

技術(shù)研發(fā)人員：王大江 張航 孟然永

受保護(hù)的技術(shù)使用者：石家莊通合電子科技股份有限公司

技術(shù)研發(fā)日：2021.03.24

技術(shù)公布日：2021/6/29