本發(fā)明所述的含輕元素
低品位礦物的定量分析方法,包括以下S:S1.測試樣品制備:將待測樣品破碎制成光片并研磨拋光得到測試樣品;S2.目的礦物確定:采用自動工藝礦物學分析系統(tǒng)對測試樣品進行礦物自動定量分析,確定目的礦物并標記其單體顆粒的位置;S3.目的礦物提?。喝〕鰳擞浳恢玫哪康牡V物單體顆粒;S4.目的礦物分析:進行X射線粉晶衍射測定并查找匹配物相。本發(fā)明突破自動工藝礦物學分析系統(tǒng)以及X射線粉晶衍射聯合應用的技術屏障,將測試樣品中的破碎礦物標記并取出,利用掃描電鏡的定位、以及X射線粉晶衍射的全面數據匹配能力,可準確鑒定出目前難以檢測的含輕元素低品位礦物并進行定量檢測分析,克服了近30年來的礦物檢測短板。
聲明:
“含輕元素低品位礦物的定量分析方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)