本發(fā)明公開了一種處理頁巖XRD數(shù)據(jù)的優(yōu)化方法,在SEM觀察和能譜分析的輔助下,直接定性識別出頁巖樣品中的目標(biāo)礦物和次要礦物;將頁巖樣品粉碎,對頁巖粉末樣品進(jìn)行測試以獲得頁巖樣品的XRD圖譜;根據(jù)峰強(qiáng)度挑選出XRD譜圖中的衍射峰,且將挑選出的衍射峰對應(yīng)的礦物作為間接識別的目標(biāo)礦物;定性分析特征峰譜圖:通過對特征峰譜圖進(jìn)行尋峰以獲取檢索礦物,將檢索礦物與間接識別的目標(biāo)礦物的XRD圖譜擬合程度好的礦物,并生成目標(biāo)礦物卡片;將目標(biāo)礦物卡片生成cif格式文件;將XRD圖譜得到的二次檢索礦物與直接定性識別的目標(biāo)礦物進(jìn)行比對,導(dǎo)入缺失礦物的cif格式文件;本發(fā)明解決了因頁巖礦物組分復(fù)雜、礦物種類繁多而檢索不準(zhǔn)的問題。
聲明:
“處理頁巖XRD數(shù)據(jù)的優(yōu)化方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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