本發(fā)明公開(kāi)一種地質(zhì)斷層探測(cè)方法及裝置,包括:獲取N個(gè)第一地震數(shù)據(jù)集;根據(jù)N個(gè)第一地震數(shù)據(jù)集得到L個(gè)第二地震數(shù)據(jù)集;根據(jù)L個(gè)第二地震數(shù)據(jù)集得到L個(gè)理論波列寬度;根據(jù)L個(gè)理論波列寬度,繪制出第一曲線;根據(jù)N個(gè)第一地震數(shù)據(jù)集得到K個(gè)第三地震數(shù)據(jù)集;根據(jù)K個(gè)第三地震數(shù)據(jù)集得到K個(gè)平均槽波波列寬度;根據(jù)K個(gè)平均槽波波列寬度,繪制出第二曲線;根據(jù)第一曲線和第二曲線得到相關(guān)系數(shù);若相關(guān)系數(shù)大于預(yù)設(shè)閾值,則確定存在斷層。
聲明:
“地質(zhì)斷層探測(cè)方法及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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