權(quán)利要求

1.帶鋼鍍鋅層測(cè)厚裝置，適用于帶鋼上的鍍鋅層的厚度測(cè)量，其特征在于，所述帶鋼繞設(shè)轉(zhuǎn)向輥，所述測(cè)厚裝置包括： 測(cè)厚儀，設(shè)置在所述帶鋼繞設(shè)的所述轉(zhuǎn)向輥的外側(cè)，所述測(cè)厚儀的輸出端朝向所述帶鋼； 兩個(gè)測(cè)距器，分別設(shè)置在所述測(cè)厚儀的寬度方向的兩端，兩個(gè)所述測(cè)距儀的輸出端朝向所述帶鋼。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的帶鋼鍍鋅層測(cè)厚裝置，其特征在于，所述測(cè)厚儀的輸出端和所述帶鋼之間的距離為12±1.5mm。 3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的帶鋼鍍鋅層測(cè)厚裝置，其特征在于，所述測(cè)距器為激光位移傳感器。 4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的帶鋼鍍鋅層測(cè)厚裝置，其特征在于，所述測(cè)距器和所述帶鋼之間的距離為150±10mm。 5.根據(jù)權(quán)利要求1-4任一項(xiàng)所述的帶鋼鍍鋅層測(cè)厚裝置，其特征在于，所述測(cè)厚裝置還包括調(diào)整組件，所述測(cè)厚儀通過(guò)所述調(diào)整組件可沿所述帶鋼的寬度方向移動(dòng)。 6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的帶鋼鍍鋅層測(cè)厚裝置，其特征在于，所述調(diào)整組件包括： 支架，和所述測(cè)厚儀固定連接，所述支架設(shè)置于所述帶鋼的外側(cè)，所述支架朝向所述帶鋼的一次設(shè)置有連接凸起以及導(dǎo)向凸起，所述連接凸起沿所述帶鋼的寬度方向設(shè)置有貫通的螺紋孔； 絲杠，所述絲杠螺紋連接在所述螺紋孔中，所述絲杠的一端用于和驅(qū)動(dòng)件連接； 導(dǎo)軌，所述導(dǎo)軌設(shè)置在所述帶鋼和所述測(cè)厚儀之間，所述導(dǎo)軌朝向所述測(cè)厚儀的一側(cè)設(shè)置有導(dǎo)槽，所述導(dǎo)向凸起滑動(dòng)設(shè)置于所述導(dǎo)槽中。 7.一種帶鋼鍍鋅層測(cè)厚方法，其特征在于，所述測(cè)厚方法是基于權(quán)利要求1-6任一項(xiàng)所述的帶鋼鍍鋅層測(cè)厚裝置進(jìn)行的，所述測(cè)厚方法包括： 獲取初始的系統(tǒng)測(cè)量參數(shù)，所述系統(tǒng)測(cè)量參數(shù)包括以下中的至少一項(xiàng)：所述測(cè)厚儀的輸出端和所述帶鋼之間的距離、所述測(cè)厚儀的設(shè)備尺寸及所述測(cè)厚儀的射線(xiàn)源的光子能量； 調(diào)整所述系統(tǒng)測(cè)量參數(shù)，采集所述測(cè)厚儀的輸出端朝向所述帶鋼側(cè)的鈹窗上所收集到的熒光強(qiáng)度； 在所述熒光強(qiáng)度達(dá)到預(yù)設(shè)的強(qiáng)度上限值時(shí)，將達(dá)到所述強(qiáng)度上限值的所述熒光強(qiáng)度所對(duì)應(yīng)的所述系統(tǒng)測(cè)量參數(shù)，確定為最終測(cè)量參數(shù)。 8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的帶鋼鍍鋅層測(cè)厚方法，其特征在于，所述調(diào)整所述系統(tǒng)測(cè)量參數(shù)，采集所述測(cè)厚儀的輸出端朝向所述帶鋼側(cè)的鈹窗上所收集到的熒光強(qiáng)度，具體包括： 重復(fù)執(zhí)行如下步驟m次，獲得m個(gè)所述測(cè)厚儀對(duì)應(yīng)采集的所述熒光強(qiáng)度，m為大于1的正整數(shù)： 調(diào)整所述系統(tǒng)測(cè)量參數(shù)，采集所述測(cè)厚儀的輸出端朝向所述帶鋼側(cè)的鈹窗上所收集到的熒光強(qiáng)度； 所述在所述熒光強(qiáng)度達(dá)到預(yù)設(shè)的強(qiáng)度上限值時(shí)，將達(dá)到所述強(qiáng)度上限值的所述熒光強(qiáng)度所對(duì)應(yīng)的所述系統(tǒng)測(cè)量參數(shù)，確定為最終測(cè)量參數(shù)包括： 將m個(gè)所述熒光強(qiáng)度中的最大熒光強(qiáng)度所對(duì)應(yīng)的所述系統(tǒng)測(cè)量參數(shù)，確定為所述最終測(cè)量參數(shù)。 9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的帶鋼鍍鋅層測(cè)厚方法，其特征在于，所述鋅層厚度測(cè)量之后，所述測(cè)厚方法還包括： 基于蒙特卡羅算法對(duì)所述測(cè)厚儀所收集的反射熒光進(jìn)行評(píng)價(jià)參數(shù)的計(jì)算，得到對(duì)應(yīng)的評(píng)價(jià)參數(shù)，所述評(píng)價(jià)參數(shù)包括相對(duì)誤差和/或質(zhì)量因子； 在所述評(píng)價(jià)參數(shù)滿(mǎn)足預(yù)設(shè)指標(biāo)要求時(shí)，確定基于所述最終測(cè)量參數(shù)進(jìn)行的所述鋅層厚度測(cè)量合理。 10.根據(jù)權(quán)利要求7-9任一項(xiàng)所述的帶鋼鍍鋅層測(cè)厚方法，其特征在于，所述測(cè)厚儀的射線(xiàn)源的光子能量為10keV。

說(shuō)明書(shū)

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)屬于冶金生產(chǎn)檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種帶鋼鍍鋅層測(cè)厚裝置以及測(cè)厚方法。

背景技術(shù)

目前，連續(xù)熱鍍鋅行業(yè)使用最為普遍的鍍鋅層厚度無(wú)損檢測(cè)方法是X射線(xiàn)熒光法，通過(guò)X射線(xiàn)測(cè)厚儀向鍍鋅板發(fā)射X射線(xiàn)，而后收集由X射線(xiàn)源激發(fā)的熒光來(lái)測(cè)量鍍鋅層的厚度。

使用上述方法測(cè)量時(shí)，若帶鋼抖動(dòng)較大時(shí)，就會(huì)影響反射熒光信號(hào)的穩(wěn)定性，導(dǎo)致鍍鋅層的厚度存在較大的測(cè)量誤差。

發(fā)明內(nèi)容

為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N帶鋼鍍鋅層測(cè)厚裝置以及測(cè)厚方法，旨在至少一定程度上改善帶鋼的鍍鋅層的厚度測(cè)量時(shí)存在的測(cè)量。

本申請(qǐng)的技術(shù)方案為：

一方面，本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N帶鋼鍍鋅層測(cè)厚裝置，適用于帶鋼上的鍍鋅層的厚度測(cè)量，其特殊之處在于，所述帶鋼繞設(shè)轉(zhuǎn)向輥，所述測(cè)厚裝置包括：

測(cè)厚儀，設(shè)置在所述帶鋼繞設(shè)的所述轉(zhuǎn)向輥的外側(cè)，所述測(cè)厚儀的輸出端朝向所述帶鋼；

兩個(gè)測(cè)距器，分別設(shè)置在所述測(cè)厚儀的寬度方向的兩端，兩個(gè)所述測(cè)距儀的輸出端朝向所述帶鋼。

本申請(qǐng)所提供的一種帶鋼鍍鋅層測(cè)厚裝置，由于該測(cè)厚裝置的測(cè)厚儀設(shè)置在帶鋼繞設(shè)的轉(zhuǎn)向輥的外側(cè)，此處的帶鋼通過(guò)轉(zhuǎn)向輥的張緊，可改善帶鋼的抖動(dòng)，從而可改善測(cè)厚儀所發(fā)射的熒光信號(hào)的發(fā)射的穩(wěn)定性，減少鍍鋅層的厚度的測(cè)量誤差。

另外，由于測(cè)厚儀的寬度方向的兩端均設(shè)置有測(cè)距器，可通過(guò)測(cè)距器實(shí)時(shí)獲取測(cè)厚儀同帶鋼之間的距離，進(jìn)而可確認(rèn)帶鋼的抖動(dòng)性，這樣可在帶鋼的抖動(dòng)性符合要求的情況下，獲取帶鋼的鍍鋅層的厚度，可進(jìn)一步減少鍍鋅層的厚度的測(cè)量誤差，具有很好的實(shí)用性。

在一些實(shí)施方案中，所述測(cè)厚儀的輸出端和所述帶鋼之間的距離為12±1.5mm。

優(yōu)選地，所述測(cè)距器為激光位移傳感器。

在一些實(shí)施方案中，所述測(cè)距器和所述帶鋼之間的距離為150±10mm。

在一些實(shí)施方案中，所述測(cè)厚裝置還包括調(diào)整組件，所述測(cè)厚儀通過(guò)所述調(diào)整組件可沿所述帶鋼的寬度方向移動(dòng)。

在一些實(shí)施方案中，所述調(diào)整組件包括：

支架，和所述測(cè)厚儀固定連接，所述支架設(shè)置于所述帶鋼的外側(cè)，所述支架朝向所述帶鋼的一次設(shè)置有連接凸起以及導(dǎo)向凸起，所述連接凸起沿所述帶鋼的寬度方向設(shè)置有貫通的螺紋孔；

絲杠，所述絲杠螺紋連接在所述螺紋孔中，所述絲杠的一端用于和驅(qū)動(dòng)件連接；

導(dǎo)軌，所述導(dǎo)軌設(shè)置在所述帶鋼和所述測(cè)厚儀之間，所述導(dǎo)軌朝向所述測(cè)厚儀的一側(cè)設(shè)置有導(dǎo)槽，所述導(dǎo)向凸起滑動(dòng)設(shè)置于所述導(dǎo)槽中。

另一方面，本申請(qǐng)還提供了一種帶鋼鍍鋅層測(cè)厚方法，其特殊之處在于，所述測(cè)厚方法是基于上述帶鋼鍍鋅層測(cè)厚裝置進(jìn)行的，所述測(cè)厚方法包括：

獲取初始的系統(tǒng)測(cè)量參數(shù)，所述系統(tǒng)測(cè)量參數(shù)包括以下中的至少一項(xiàng)：所述測(cè)厚儀的輸出端和所述帶鋼之間的距離、所述測(cè)厚儀的設(shè)備尺寸及所述測(cè)厚儀的射線(xiàn)源的光子能量；

調(diào)整所述系統(tǒng)測(cè)量參數(shù)，采集所述測(cè)厚儀的輸出端朝向所述帶鋼側(cè)的鈹窗上所收集到的熒光強(qiáng)度；

在所述熒光強(qiáng)度達(dá)到預(yù)設(shè)的強(qiáng)度上限值時(shí)，將達(dá)到所述強(qiáng)度上限值的所述熒光強(qiáng)度所對(duì)應(yīng)的所述系統(tǒng)測(cè)量參數(shù)，確定為最終測(cè)量參數(shù)。

在一些實(shí)施方案中，所述調(diào)整所述系統(tǒng)測(cè)量參數(shù)，采集所述測(cè)厚儀的輸出端朝向所述帶鋼側(cè)的鈹窗上所收集到的熒光強(qiáng)度，具體包括：

重復(fù)執(zhí)行如下步驟m次，獲得m個(gè)所述測(cè)厚儀對(duì)應(yīng)采集的所述熒光強(qiáng)度，m為大于1的正整數(shù)：

調(diào)整所述系統(tǒng)測(cè)量參數(shù)，采集所述測(cè)厚儀的輸出端朝向所述帶鋼側(cè)的鈹窗上所收集到的熒光強(qiáng)度；

所述在所述熒光強(qiáng)度達(dá)到預(yù)設(shè)的強(qiáng)度上限值時(shí)，將達(dá)到所述強(qiáng)度上限值的所述熒光強(qiáng)度所對(duì)應(yīng)的所述系統(tǒng)測(cè)量參數(shù)，確定為最終測(cè)量參數(shù)包括：

將m個(gè)所述熒光強(qiáng)度中的最大熒光強(qiáng)度所對(duì)應(yīng)的所述系統(tǒng)測(cè)量參數(shù)，確定為所述最終測(cè)量參數(shù)。

在一些實(shí)施方案中，所述鋅層厚度測(cè)量之后，所述測(cè)厚方法還包括：

基于蒙特卡羅算法對(duì)所述測(cè)厚儀所收集的反射熒光進(jìn)行評(píng)價(jià)參數(shù)的計(jì)算，得到對(duì)應(yīng)的評(píng)價(jià)參數(shù)，所述評(píng)價(jià)參數(shù)包括相對(duì)誤差和/或質(zhì)量因子；

在所述評(píng)價(jià)參數(shù)滿(mǎn)足預(yù)設(shè)指標(biāo)要求時(shí)，確定基于所述最終測(cè)量參數(shù)進(jìn)行的所述鋅層厚度測(cè)量合理。

在一些實(shí)施方案中，所述測(cè)厚儀的射線(xiàn)源的光子能量為10keV。

本申請(qǐng)所提供的帶鋼鍍鋅層測(cè)厚方法，可實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)參數(shù)的便捷、快速及準(zhǔn)確確定，有利于提升鍍鋅層厚度測(cè)量的便捷性和準(zhǔn)確性。

附圖說(shuō)明

為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見(jiàn)地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

附圖中：

圖1為本申請(qǐng)實(shí)施例的一種帶鋼鍍鋅層測(cè)厚裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為圖1的側(cè)視示意圖；

圖3為本申請(qǐng)實(shí)施例提供的一種鍍鋅層厚度測(cè)量的測(cè)厚儀模型的示意圖；

圖4為本申請(qǐng)實(shí)施例提供的一種射線(xiàn)源提供的入射光與鍍鋅板相互作用的示意圖。

圖5為本申請(qǐng)實(shí)施例提供的一種鍍鋅層測(cè)厚方法的流程示意圖；

圖6為本申請(qǐng)實(shí)施例提供的一種不同能量下激發(fā)的鋅層Kα能量光譜的對(duì)比示意圖；

圖7為本申請(qǐng)實(shí)施例提供的一種不同探測(cè)器尺寸及距離下的熒光強(qiáng)度對(duì)比示意圖。

圖8(a)-圖8(d)是本申請(qǐng)實(shí)施例提供的幾種不同距離、不同射線(xiàn)源的入射光子能量下鍍鋅層厚度與入射光子計(jì)數(shù)之間的線(xiàn)性關(guān)系示意圖。

附圖標(biāo)記：

測(cè)厚儀-1，測(cè)距器-2，支架-3，連接凸起-31，導(dǎo)向凸起-32，絲杠-4，導(dǎo)軌-5，導(dǎo)槽-51，帶鋼-6，轉(zhuǎn)向輥-7。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合本申請(qǐng)實(shí)施例中的附圖，對(duì)本申請(qǐng)實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本申請(qǐng)的一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本申請(qǐng)中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本申請(qǐng)保護(hù)的范圍。

需要說(shuō)明的是，本申請(qǐng)實(shí)施例中所有方向性指示僅用于解釋在某一特定姿態(tài)下各部件之間的相對(duì)位置關(guān)系、運(yùn)動(dòng)情況等，如果該特定姿態(tài)發(fā)生改變時(shí)，則該方向性指示也相應(yīng)地隨之改變。

下文的公開(kāi)提供了許多不同的實(shí)施例或例子用來(lái)實(shí)現(xiàn)本申請(qǐng)的不同結(jié)構(gòu)。為了簡(jiǎn)化本申請(qǐng)的公開(kāi)，下文中對(duì)特定例子的部件和設(shè)置進(jìn)行描述。當(dāng)然，它們僅僅為示例，并且目的不在于限制本申請(qǐng)。此外，本申請(qǐng)可以在不同例子中重復(fù)參考數(shù)字和/或參考字母，這種重復(fù)是為了簡(jiǎn)化和清楚的目的，其本身不指示所討論各種實(shí)施例和/或設(shè)置之間的關(guān)系。此外，本申請(qǐng)?zhí)峁┝说母鞣N特定的工藝和材料的例子，但是本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以意識(shí)到其他工藝的應(yīng)用和/或其他材料的使用。

下面結(jié)合附圖并參考具體實(shí)施例描述本申請(qǐng)：

本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種帶鋼鍍鋅層測(cè)厚裝置以及測(cè)厚方法，旨在至少一定程度上改善帶鋼的鍍鋅層的厚度測(cè)量時(shí)存在的測(cè)量。

首先，本申請(qǐng)實(shí)施例公開(kāi)了一種帶鋼鍍鋅層測(cè)厚裝置，適用于帶鋼6上的鍍鋅層的厚度測(cè)量。圖1為本申請(qǐng)實(shí)施例的一種帶鋼鍍鋅層測(cè)厚裝置的結(jié)構(gòu)示意圖，圖2為圖1的側(cè)視示意圖。結(jié)合圖1以及圖2，本申請(qǐng)實(shí)施例的帶鋼鍍鋅層測(cè)厚裝置所適用的帶鋼6繞設(shè)于轉(zhuǎn)向輥，該測(cè)厚裝置包括測(cè)厚儀1以及兩個(gè)測(cè)距器2，其中，測(cè)厚儀1設(shè)置在帶鋼6繞設(shè)的轉(zhuǎn)向輥的外側(cè)，測(cè)厚儀1的輸出端朝向帶鋼6，兩個(gè)測(cè)距器2分別設(shè)置在測(cè)厚儀1的寬度方向的兩端，兩個(gè)測(cè)距儀的輸出端朝向帶鋼6。

本申請(qǐng)實(shí)施例所提供的一種帶鋼鍍鋅層測(cè)厚裝置，由于該測(cè)厚裝置的測(cè)厚儀1設(shè)置在帶鋼6繞設(shè)的轉(zhuǎn)向輥的外側(cè)，此處的帶鋼6通過(guò)轉(zhuǎn)向輥的張緊，可改善帶鋼6的抖動(dòng)現(xiàn)象，從而可改善測(cè)厚儀1所發(fā)射的熒光信號(hào)的發(fā)射的穩(wěn)定性，減少鍍鋅層的厚度的測(cè)量誤差。

作為本申請(qǐng)實(shí)施例的優(yōu)選方案，帶鋼鍍鋅層測(cè)厚裝置安裝在轉(zhuǎn)向輥7的上游，當(dāng)然，在其他實(shí)施方案中，帶鋼鍍鋅層測(cè)厚裝置也可安裝在轉(zhuǎn)向輥7的下游，在此不做限制。

另外，由于測(cè)厚儀1的寬度方向的兩端均設(shè)置有測(cè)距器2，可通過(guò)測(cè)距器2實(shí)時(shí)獲取測(cè)厚儀1同帶鋼6之間的距離，進(jìn)而可確認(rèn)帶鋼6的抖動(dòng)性，這樣可在帶鋼6的抖動(dòng)性符合要求的情況下，獲取帶鋼6的鍍鋅層的厚度，可進(jìn)一步減少鍍鋅層的厚度的測(cè)量誤差，具有很好的實(shí)用性。

對(duì)于本申請(qǐng)實(shí)施例而言，測(cè)厚儀1的輸出端和帶鋼6之間的距離可以為12±1.5mm，測(cè)厚儀1的輸出端向鍍鋅板發(fā)射X射線(xiàn)，而后收集由X射線(xiàn)源激發(fā)的熒光從而可測(cè)量鍍鋅層的厚度。

本申請(qǐng)實(shí)施例的測(cè)距器2可選用激光位移傳感器，激光位移傳感器傳感器可實(shí)時(shí)向帶鋼6發(fā)射激光，以實(shí)時(shí)獲取測(cè)厚儀1同帶鋼6之間的距離，進(jìn)而可確認(rèn)帶鋼6的抖動(dòng)性，這樣可在帶鋼6的抖動(dòng)性符合要求的情況下，獲取帶鋼6的鍍鋅層的厚度，可進(jìn)一步減少鍍鋅層的厚度的測(cè)量誤差。

本申請(qǐng)實(shí)施例中，測(cè)距器2和帶鋼6之間的距離可以為150±10mm。

本申請(qǐng)實(shí)施例的測(cè)距器2和測(cè)厚儀1可以為預(yù)先裝配在一起的構(gòu)件，可方便二者在施工現(xiàn)場(chǎng)的裝配，具有很好的實(shí)用性。

進(jìn)一步地，本申請(qǐng)實(shí)施例的測(cè)厚裝置還包括調(diào)整組件，測(cè)厚儀1通過(guò)調(diào)整組件可沿帶鋼6的寬度方向移動(dòng)，以適應(yīng)不同寬度的帶鋼6上的鍍鋅層的厚度的測(cè)量。

結(jié)合圖1以及圖2，本申請(qǐng)實(shí)施例的調(diào)整組件包括支架3、絲杠4以及導(dǎo)軌5，其中，支架3和測(cè)厚儀1固定連接，支架3設(shè)置于帶鋼6的外側(cè)，支架3朝向帶鋼6的一次設(shè)置有連接凸起31以及導(dǎo)向凸起32，連接凸起31沿帶鋼6的寬度方向設(shè)置有貫通的螺紋孔，絲杠4螺紋連接在螺紋孔中，絲杠4的一端用于和驅(qū)動(dòng)件連接，導(dǎo)軌5固定設(shè)置在帶鋼6和測(cè)厚儀1之間，導(dǎo)軌5沿著導(dǎo)軌5朝向測(cè)厚儀1的一側(cè)設(shè)置有導(dǎo)槽51，導(dǎo)向凸起32滑動(dòng)設(shè)置于導(dǎo)槽中。通過(guò)驅(qū)動(dòng)件可控制絲杠4轉(zhuǎn)動(dòng)，從而可帶動(dòng)支架3沿著導(dǎo)軌5的長(zhǎng)度方向移動(dòng)，進(jìn)而可帶動(dòng)測(cè)厚儀1沿著導(dǎo)軌5的長(zhǎng)度方向移動(dòng)，繼而可實(shí)現(xiàn)測(cè)厚儀1沿著帶鋼6的寬度方向移動(dòng)，以實(shí)現(xiàn)不同寬度的帶鋼6上的鍍鋅層的厚度的測(cè)量。

本申請(qǐng)實(shí)施例的驅(qū)動(dòng)件可以為配置有減速器的電機(jī)，以使絲杠4的轉(zhuǎn)速穩(wěn)定，使測(cè)厚裝置可以穩(wěn)定的移動(dòng)。

在其他實(shí)施方案中，驅(qū)動(dòng)測(cè)厚儀1移動(dòng)的裝置還可以為其他直線(xiàn)往返機(jī)構(gòu)，例如齒輪齒條等，在此不做限制。

另外，基于上述帶鋼鍍鋅層測(cè)厚裝置，本申請(qǐng)還提供了一種帶鋼鍍鋅層測(cè)厚方法。

圖3為本申請(qǐng)實(shí)施例提供的一種鍍鋅層厚度測(cè)量的測(cè)厚儀模型的示意圖。如圖3中，在距離帶鋼h高度處設(shè)置有一個(gè)充有氙氣(因?yàn)殡瘹獾碾婋x能較低)的環(huán)形電離室作為測(cè)厚儀。電離室的內(nèi)外直徑和高度均可根據(jù)系統(tǒng)自定義設(shè)置，例如內(nèi)外直徑可分別為2.5cm和20cm，電離室的高度為15cm等。電離室(即測(cè)厚儀)靠近帶鋼一側(cè)的底部可以是0.01cm厚度的鈹窗。電離室外遠(yuǎn)離帶鋼一側(cè)中心處設(shè)置有射線(xiàn)源(如X射線(xiàn)源)作為單色能量光子，該射線(xiàn)源即為測(cè)厚儀的輸出端，其發(fā)射的能量可稱(chēng)為光子能量，以錐形照射帶鋼的鍍鋅層。如圖3所示，照射光斑的半徑為L(zhǎng)/2，L為錐形底部直徑，即最大直徑。其中，環(huán)形電離室可以有效地增大測(cè)厚儀的窗面積，提高探測(cè)效率，減小統(tǒng)計(jì)誤差。

本申請(qǐng)實(shí)施例基于測(cè)厚儀所捕獲/采集的Kα輻射或Kβ輻射的強(qiáng)度和能量對(duì)被照射物質(zhì)(鍍鋅層)進(jìn)行分析，換言之本申請(qǐng)可利用測(cè)厚儀對(duì)帶鋼中的鋅層厚度進(jìn)行測(cè)量。具體地，本申請(qǐng)可使用預(yù)先制作好的標(biāo)準(zhǔn)板(標(biāo)準(zhǔn)鍍鋅板)對(duì)測(cè)厚儀進(jìn)行標(biāo)定，得到多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)板各自對(duì)應(yīng)的電壓/電流與鍍鋅層厚度之間關(guān)系的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量曲線(xiàn)。以多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)為依據(jù)，將待測(cè)量鍍鋅層的電壓/電流信號(hào)與標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量曲線(xiàn)中的對(duì)應(yīng)點(diǎn)進(jìn)行比較，可以獲得待測(cè)量帶鋼中的鍍鋅層的厚度。

圖4為本申請(qǐng)實(shí)施例提供的一種射線(xiàn)源提供的入射光與帶鋼相互作用的示意圖。如圖4中，測(cè)厚儀通過(guò)收集X射線(xiàn)源激發(fā)的熒光強(qiáng)度來(lái)測(cè)量鍍鋅層的厚度。當(dāng)這些X射線(xiàn)被鍍鋅層的鋅原子吸收后，具有特定能量的光子從原子中釋放出來(lái)。反射回來(lái)的光子的數(shù)量(簡(jiǎn)稱(chēng)為光子數(shù))根據(jù)鋅層厚度的不同而不同。

基于上述論述，請(qǐng)參見(jiàn)圖5，圖5為本申請(qǐng)實(shí)施例提供的一種鍍鋅層測(cè)厚方法的流程示意圖。如圖5所示，該測(cè)厚方法包括如下實(shí)施步驟：

S1、獲取初始的系統(tǒng)測(cè)量參數(shù)，該系統(tǒng)測(cè)量參數(shù)包括以下中的至少一項(xiàng)：測(cè)厚儀的輸出端和帶鋼之間的距離、測(cè)厚儀的設(shè)備尺寸及測(cè)厚儀的射線(xiàn)源的光子能量。

本申請(qǐng)所述系統(tǒng)測(cè)量參數(shù)可為系統(tǒng)或用戶(hù)預(yù)先自定義配置的，其可包括但不限于以下中的任一項(xiàng)或多項(xiàng)的組合：測(cè)厚儀的安裝距離h、測(cè)厚儀的設(shè)備尺寸和射線(xiàn)源的光子能量。其中，所述測(cè)厚儀可為充有氙氣的環(huán)形電離室，所述測(cè)厚儀的設(shè)備尺寸包括所述測(cè)厚儀的內(nèi)徑和外徑(即內(nèi)外直徑)。

S2、調(diào)整系統(tǒng)測(cè)量參數(shù)，采集測(cè)厚儀的輸出端朝向帶鋼側(cè)的鈹窗上所收集到的熒光強(qiáng)度；

S3、在熒光強(qiáng)度達(dá)到預(yù)設(shè)的強(qiáng)度上限值時(shí)，將達(dá)到強(qiáng)度上限值的熒光強(qiáng)度所對(duì)應(yīng)的系統(tǒng)測(cè)量參數(shù)，確定為最終測(cè)量參數(shù)。

本申請(qǐng)實(shí)施例可通過(guò)調(diào)整所述系統(tǒng)測(cè)量參數(shù)，并采集每次調(diào)整時(shí)所述測(cè)厚儀所采集到的熒光強(qiáng)度，進(jìn)而根據(jù)所述熒光強(qiáng)度確定出系統(tǒng)的最終測(cè)量參數(shù)。

進(jìn)一步地，本申請(qǐng)實(shí)施例可重復(fù)執(zhí)行m次步驟S2，獲得m個(gè)所述系統(tǒng)測(cè)量參數(shù)所對(duì)應(yīng)采集的m個(gè)熒光強(qiáng)度，m為大于1的正整數(shù)。進(jìn)一步本申請(qǐng)從m個(gè)熒光強(qiáng)度中選取最大熒光強(qiáng)度，將所述最大熒光強(qiáng)度所對(duì)應(yīng)的系統(tǒng)測(cè)量參數(shù)確定為系統(tǒng)的最終測(cè)量參數(shù)。

進(jìn)一步地，本申請(qǐng)實(shí)施例可根據(jù)所述最終測(cè)量參數(shù)，調(diào)整/安裝系統(tǒng)中的相應(yīng)器件，例如根據(jù)最終測(cè)量參數(shù)中的測(cè)厚儀的安裝距離h(例如4cm)來(lái)安裝測(cè)厚儀，根據(jù)最終測(cè)量參數(shù)中測(cè)厚儀的設(shè)備尺寸(例如內(nèi)外直徑分別為2.5cm和20cm)來(lái)選擇安裝相應(yīng)尺寸的測(cè)厚儀等等，本申請(qǐng)實(shí)施例不做限定。

進(jìn)一步地，為驗(yàn)證鍍鋅層測(cè)厚方案的有效性，本申請(qǐng)實(shí)施例可基于蒙特卡羅算法對(duì)所述測(cè)厚儀所收集的反射熒光進(jìn)行評(píng)價(jià)參數(shù)的計(jì)算，得到對(duì)應(yīng)的評(píng)價(jià)參數(shù)，所述評(píng)價(jià)參數(shù)包括相對(duì)誤差和/或質(zhì)量因子。在所述評(píng)價(jià)參數(shù)滿(mǎn)足預(yù)設(shè)指標(biāo)要求時(shí)，確定基于所述最終測(cè)量參數(shù)進(jìn)行的所述鍍鋅層厚度測(cè)量合理，即確定當(dāng)前測(cè)厚方案合理；反之，確定當(dāng)前測(cè)厚方案不合理。

具體實(shí)現(xiàn)中，本申請(qǐng)實(shí)施例采用基于被稱(chēng)為隨機(jī)抽樣技術(shù)的蒙特卡羅(MonteCarlo)方法驗(yàn)證測(cè)厚方案的有效性。具體地本申請(qǐng)基于蒙特卡羅方法先統(tǒng)計(jì)熒光測(cè)厚儀界面的光子數(shù)F1，即統(tǒng)計(jì)測(cè)厚儀鈹窗所收集到的光子數(shù)F1，其具體計(jì)算公式(1)如下所示：

其中，r為粒子通過(guò)(鍍鋅板)曲面時(shí)的位置，E為粒子通過(guò)曲面時(shí)的能量，t為粒子通過(guò)曲面時(shí)的時(shí)間(shake，10-8s)，μ為粒子通過(guò)曲面時(shí)方向余弦，A為面積(cm2)。

本申請(qǐng)實(shí)施例還可以相對(duì)誤差和質(zhì)量因子(figure of merit)評(píng)價(jià)測(cè)厚方案的物理模型(測(cè)厚儀模型)是否能有效地激發(fā)鋅元素的熒光并穿透鍍鋅層。其中，相對(duì)誤差R和質(zhì)量因子FOM的計(jì)算公式(2)如下所示：

其中，P(x)為測(cè)厚儀接收的反射熒光的一個(gè)隨機(jī)過(guò)程的概率密度函數(shù)，x i為從P(x)中抽取的第i個(gè)歷史的貢獻(xiàn)，N為粒子總數(shù)，t為計(jì)算時(shí)間(shake，10-8s)， 為N個(gè)粒子的平均貢獻(xiàn)(權(quán)重)，相對(duì)誤差為R，質(zhì)量因子為FOM。

本申請(qǐng)實(shí)施例在確定系統(tǒng)設(shè)計(jì)參數(shù)(即確定系統(tǒng)的最終測(cè)量參數(shù))時(shí)，可以鈹窗收集的熒光強(qiáng)度作為確定入射源光子能量、測(cè)厚儀的安裝距離及測(cè)厚儀的設(shè)備尺寸的依據(jù)，并將鍍鋅層的厚度與光子計(jì)數(shù)F1之間是否具有良好的線(xiàn)性關(guān)系作為驗(yàn)證和確定系統(tǒng)的最終測(cè)量參數(shù)的依據(jù)。

進(jìn)一步地，為排除長(zhǎng)時(shí)間使用和其他因素的影響，本申請(qǐng)實(shí)施例的測(cè)厚儀需要每間隔6-12小時(shí)標(biāo)定一次，換言之本申請(qǐng)實(shí)施例可周期性地重復(fù)執(zhí)行本申請(qǐng)步驟S1-S3來(lái)確定系統(tǒng)的最終測(cè)量參數(shù)。

為幫忙更好地理解本申請(qǐng)實(shí)施例，下面以一些例子進(jìn)行舉例說(shuō)明。請(qǐng)參見(jiàn)圖6示出射線(xiàn)源的不同光子能量下所激發(fā)的熒光能量光譜對(duì)比圖。如圖6分別示出：光子能量為10kev、20kev、30kev和40kev下，X射線(xiàn)激發(fā)的鋅(Zn)Kα能量光譜對(duì)比圖。圖示中，曲線(xiàn)1表示光子能量10kev下Kα相對(duì)熒光強(qiáng)度的變化曲線(xiàn)。曲線(xiàn)2表示光子能量20kev下Kα相對(duì)熒光強(qiáng)度的變化曲線(xiàn)。曲線(xiàn)3表示光子能量30kev下Kα相對(duì)熒光強(qiáng)度的變化曲線(xiàn)。曲線(xiàn)4表示光子能量40kev下Kα相對(duì)熒光強(qiáng)度的變化曲線(xiàn)。

同時(shí)請(qǐng)一并參見(jiàn)如下表1-表3示出光子能量為30kev時(shí)，粒子數(shù)為1×108個(gè)時(shí)的驗(yàn)證結(jié)果。其中，表1為光子產(chǎn)生統(tǒng)計(jì)表，表2為光子損失統(tǒng)計(jì)表，表3為各層中的光子活動(dòng)表。

表1光子產(chǎn)生統(tǒng)計(jì)表

表2光子損失統(tǒng)計(jì)表

表3各層中光子活動(dòng)表

由表1和2可知，X射線(xiàn)源產(chǎn)生的光子為1×108個(gè)，每光子能量為30keV的情況下，光子的產(chǎn)生與損失的總數(shù)量和總能量相等，說(shuō)明所有的光子均參與到輸運(yùn)過(guò)程且被記錄。其中軔致輻射光子伴隨電子對(duì)產(chǎn)生；一次熒光是鍍層或基材產(chǎn)生的熒光；二次熒光是一次熒光進(jìn)入其他柵元再次激發(fā)出的熒光；逃逸是光子到達(dá)感興區(qū)外(模擬空間外)，而被終止計(jì)算的光子數(shù)。

由表3可知，進(jìn)入柵元1的光子數(shù)大于射線(xiàn)源產(chǎn)生的光子數(shù)，說(shuō)明射線(xiàn)源產(chǎn)生的所有X射線(xiàn)照射到鍍鋅板，并且激發(fā)了鍍層原子產(chǎn)生X射線(xiàn)熒光；進(jìn)入柵元2的光子數(shù)顯示X射線(xiàn)不僅有效穿透了鍍鋅層，部分X射線(xiàn)還穿透了鍍鋅鋼板；柵元3和柵元4均有光子進(jìn)入(此時(shí)的光子均為特征X射線(xiàn))，電離室產(chǎn)生的光子更多，因?yàn)椴糠止庾涌赡軓碾婋x室側(cè)面進(jìn)入而沒(méi)有通過(guò)鈹窗，因此以鈹窗的光子流量進(jìn)行統(tǒng)計(jì)更為準(zhǔn)確有效。柵元5中進(jìn)入的光子數(shù)量最多，這是由于不論是射線(xiàn)源發(fā)出的X射線(xiàn)還是鍍鋅層與基材鋼板發(fā)出熒光都是先經(jīng)過(guò)空氣再進(jìn)入另一個(gè)柵元中。以上光子在各柵元中的活動(dòng)與本申請(qǐng)上述圖2和圖3所示的測(cè)厚方案中的光路有較好地一致性。

下面以TFC計(jì)數(shù)和計(jì)數(shù)收斂統(tǒng)計(jì)考查以上結(jié)果的可靠性。表4為計(jì)數(shù)波動(dòng)表。根據(jù)基于蒙特卡羅的一種算法(MCNP)程序一般要求R<0.05以獲得一般可靠的置信區(qū)間，由表4可知相對(duì)誤差R<0.003；相對(duì)誤差R呈減小的趨勢(shì)，與 成正比關(guān)系，其中N是粒子總數(shù)，而對(duì)于一個(gè)不理想的計(jì)數(shù)，R會(huì)隨著總計(jì)數(shù)數(shù)的增加而增加。質(zhì)量因子(figure ofmerit)相對(duì)平均偏差小于0.01，趨近于常數(shù)，計(jì)數(shù)質(zhì)量很高。以上均符合MCNP程序誤差的判定標(biāo)準(zhǔn)，表明測(cè)厚方案的物理模型精度較高，能有效地激發(fā)鋅元素的熒光并穿透鍍層。

表4計(jì)數(shù)波動(dòng)表(TFC)

確定測(cè)量模型能有效地激發(fā)鋅元素的熒光并穿透鍍層后，應(yīng)尋找最合適的射線(xiàn)源能量。鋅(Zn)元素Kα的特征X射線(xiàn)能量為8.63kev。因此，入射單色光子的能量(即射線(xiàn)源的光子能量)必須大于8.63kev。為了方便計(jì)算，本申請(qǐng)可將最小單色光子能量設(shè)置為10kev。

圖6比較了10keV、20keV、30keV和40keV的能譜，由圖6可知，由10keV單色光子產(chǎn)生的Zn Kα的熒光強(qiáng)度最高。因此，最合適的射線(xiàn)源能量理論整數(shù)值應(yīng)該是10keV，此時(shí)可獲得最大的Zn Kα熒光強(qiáng)度。

本申請(qǐng)實(shí)施例中，測(cè)厚儀的距離(h)是模型構(gòu)建過(guò)程中的另一個(gè)重要因素。測(cè)厚儀與帶鋼之間的距離直接關(guān)系到測(cè)厚儀的靈敏度與測(cè)量精度。

請(qǐng)參見(jiàn)圖7，圖7為本申請(qǐng)實(shí)施例提供的一種不同能量下激發(fā)的鋅層Kα能量光譜的對(duì)比示意圖。圖7中的鈹窗分別在1cm到10cm距離處采集的Zn Kα強(qiáng)度對(duì)比數(shù)據(jù)(nps＝107)，表5是圖7中曲線(xiàn)a～d的采用參數(shù)情況。

表5各曲線(xiàn)對(duì)應(yīng)參數(shù)表

由圖7與表5可知：當(dāng)測(cè)厚儀內(nèi)徑較大時(shí)，入射光角度越小，采集熒光強(qiáng)度越低；當(dāng)測(cè)厚儀內(nèi)徑較小且入射光角度最小時(shí)，采集到的熒光強(qiáng)度最大。且測(cè)厚儀距離(即安裝距離)h在2～4cm之間時(shí)，熒光強(qiáng)度達(dá)到最大值。當(dāng)測(cè)厚儀接近鍍鋅層時(shí)，部分熒光進(jìn)入測(cè)厚儀內(nèi)徑盲區(qū)，因此無(wú)法收集。當(dāng)測(cè)厚儀距離逐漸增大時(shí)，部分熒光從測(cè)厚儀外部逃逸?？紤]到實(shí)際生產(chǎn)情況，較大的檢測(cè)距離可以有效降低帶鋼抖動(dòng)引起的誤差和儀器損壞的風(fēng)險(xiǎn)。因此，在測(cè)量模型中，最合適的測(cè)厚儀距離h應(yīng)該是4cm。其中，DIR是指單色光子反射方向與Y軸方向的夾角的余弦值。

連續(xù)熱鍍鋅生產(chǎn)線(xiàn)鋅層測(cè)厚儀使用標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量曲線(xiàn)為依據(jù)，將測(cè)量得到的電壓或電流信號(hào)與標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)中的對(duì)應(yīng)點(diǎn)比較，得到對(duì)應(yīng)的鋅層厚度值。在標(biāo)定過(guò)程中，鋅層測(cè)厚儀回到位于O型架一側(cè)的標(biāo)定位，使用制作好的標(biāo)準(zhǔn)板對(duì)標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)進(jìn)行標(biāo)定。因此，測(cè)量曲線(xiàn)對(duì)鋅層測(cè)厚儀具有重要作用。由于在MCNP程序不能仿真電信號(hào)，所以需要能夠建立鋅層厚度值與X射線(xiàn)熒光光子數(shù)的測(cè)量曲線(xiàn)。

在按前述方式確定了射線(xiàn)源能量和探測(cè)距離的基礎(chǔ)上，測(cè)量了40～180g·m-2中等厚度的鋅鍍層。圖8(a)～(c)分別示出10keV入射光子能量時(shí)，鋅鍍層厚度(與圖5中的單位面積鋅層重量呈正比)與Zn Kα光子計(jì)數(shù)之間的關(guān)系。當(dāng)測(cè)厚儀距離在3～4cm間，兩者能建立較好地線(xiàn)性關(guān)系。同時(shí)，在測(cè)厚儀內(nèi)徑為0.5cm且DIR＝1時(shí)，線(xiàn)性關(guān)系最好，線(xiàn)性相關(guān)系數(shù)為0.9994。

圖8(d)是20keV單色光子的比較數(shù)據(jù)，由于高能X射線(xiàn)產(chǎn)生的Zn Kα熒光較少，經(jīng)過(guò)較厚的鍍鋅層后，Zn Kα熒光進(jìn)一步減弱，不能顯示出微弱的變化趨勢(shì)。結(jié)果也更進(jìn)一步的證明了10keV為較合適的入射光子能量。

通過(guò)實(shí)施本申請(qǐng)實(shí)施例，本申請(qǐng)獲取初始的系統(tǒng)測(cè)量參數(shù)，所述系統(tǒng)測(cè)量參數(shù)包括以下中的至少一項(xiàng)：所述測(cè)厚儀的安裝距離、所述測(cè)厚儀的設(shè)備尺寸及所述射線(xiàn)源的光子能量；調(diào)整所述系統(tǒng)測(cè)量參數(shù)，采集所述測(cè)厚儀中靠近所述鍍鋅板側(cè)的鈹窗上所收集到的熒光強(qiáng)度；在所述熒光強(qiáng)度達(dá)到預(yù)設(shè)的強(qiáng)度上限值時(shí)，將達(dá)到所述強(qiáng)度上限值的所述熒光強(qiáng)度所對(duì)應(yīng)的所述系統(tǒng)測(cè)量參數(shù)，確定為最終測(cè)量參數(shù)。上述方案中，本申請(qǐng)通過(guò)調(diào)整系統(tǒng)測(cè)量參數(shù)，采集當(dāng)前所述測(cè)厚儀所收集的熒光強(qiáng)度，在熒光強(qiáng)度達(dá)到預(yù)設(shè)的強(qiáng)度上限值時(shí)可將此時(shí)的所述系統(tǒng)測(cè)量參數(shù)確定為最終測(cè)量參數(shù)。這樣實(shí)現(xiàn)了系統(tǒng)參數(shù)的便捷、快速及準(zhǔn)確確定，有利于提升鍍鋅層厚度測(cè)量的便捷性和準(zhǔn)確性。

作為本申請(qǐng)實(shí)施例的優(yōu)選方案，所述測(cè)厚儀的安裝距離為4cm，所述射線(xiàn)源的光子能量為10keV，所述測(cè)厚儀為充有氙氣的環(huán)形電離室，所述測(cè)厚儀的設(shè)備尺寸包括所述測(cè)厚儀的內(nèi)徑和外徑，所述測(cè)厚儀的內(nèi)徑為2.5cm，所述測(cè)厚儀的外徑為20cm。

本申請(qǐng)實(shí)施例至少具有如下技術(shù)效果或優(yōu)點(diǎn)：本申請(qǐng)通過(guò)調(diào)整系統(tǒng)測(cè)量參數(shù)，采集當(dāng)前所述測(cè)厚儀所收集的熒光強(qiáng)度，在熒光強(qiáng)度達(dá)到預(yù)設(shè)的強(qiáng)度上限值時(shí)可將此時(shí)的所述系統(tǒng)測(cè)量參數(shù)確定為最終測(cè)量參數(shù)。這樣實(shí)現(xiàn)了系統(tǒng)參數(shù)的便捷、快速及準(zhǔn)確確定，有利于提升鍍鋅層厚度測(cè)量的便捷性和準(zhǔn)確性。

在本申請(qǐng)中，除非另有明確的規(guī)定和限定，術(shù)語(yǔ)“連接”、“固定”等應(yīng)做廣義理解，例如，“固定”可以是固定連接，也可以是可拆卸連接，或成一體；可以是機(jī)械連接，也可以是電連接；可以是直接相連，也可以通過(guò)中間媒介間接相連，可以是兩個(gè)元件內(nèi)部的連通或兩個(gè)元件的相互作用關(guān)系，除非另有明確的限定。對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員而言，可以根據(jù)具體情況理解上述術(shù)語(yǔ)在本申請(qǐng)中的具體含義。

在本申請(qǐng)的描述中，需要理解的是，術(shù)語(yǔ)“中心”、“縱向”、“橫向”、“長(zhǎng)度”、“寬度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“豎直”、“水平”、“頂”、“底”、“內(nèi)”、“外”、“順時(shí)針”、“逆時(shí)針”等指示的方位或位置關(guān)系為基于附圖所示的方位或位置關(guān)系，僅是為了便于描述本申請(qǐng)和簡(jiǎn)化描述，而不是指示或暗示所指的裝置或元件必須具有特定的方位、以特定的方位構(gòu)造和操作，因此不能理解為對(duì)本申請(qǐng)的限制。

另外，在本申請(qǐng)中如涉及“第一”、“第二”等的描述僅用于描述目的，而不能理解為指示或暗示其相對(duì)重要性或者隱含指明所指示的技術(shù)特征的數(shù)量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隱含地包括至少一個(gè)該特征。另外，各個(gè)實(shí)施例之間的技術(shù)方案可以相互結(jié)合，但是必須是以本領(lǐng)域普通技術(shù)人員能夠?qū)崿F(xiàn)為基礎(chǔ)，當(dāng)技術(shù)方案的結(jié)合出現(xiàn)相互矛盾或無(wú)法實(shí)現(xiàn)時(shí)應(yīng)當(dāng)認(rèn)為這種技術(shù)方案的結(jié)合不存在，也不在本申請(qǐng)要求的保護(hù)范圍之內(nèi)。

在本申請(qǐng)的描述中，除非另有明確的規(guī)定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接觸，也可以包括第一和第二特征不是直接接觸而是通過(guò)它們之間的另外的特征接觸。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或僅僅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或僅僅表示第一特征水平高度小于第二特征。

在本說(shuō)明書(shū)的描述中，參考術(shù)語(yǔ)“一個(gè)實(shí)施例”、“一些實(shí)施例”、“示例”、“具體示例”、或“一些示例”等的描述意指結(jié)合該實(shí)施例或示例描述的具體特征、結(jié)構(gòu)、材料或者特點(diǎn)包含于本申請(qǐng)的至少一個(gè)實(shí)施例或示例中。在本說(shuō)明書(shū)中，對(duì)上述術(shù)語(yǔ)的示意性表述不必須針對(duì)的是相同的實(shí)施例或示例。而且，描述的具體特征、結(jié)構(gòu)、材料或者特點(diǎn)可以在任何的一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例或示例中以合適的方式結(jié)合。此外，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以將本說(shuō)明書(shū)中描述的不同實(shí)施例或示例進(jìn)行接合和組合。

盡管已描述了本申請(qǐng)的優(yōu)選實(shí)施例，但本領(lǐng)域內(nèi)的普通技術(shù)人員一旦得知了基本創(chuàng)造性概念，則可對(duì)這些實(shí)施例作出另外的變更和修改。所以，所附權(quán)利要求意欲解釋為包括優(yōu)選實(shí)施例以及落入本申請(qǐng)范圍的所有變更和修改。

顯然，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對(duì)本申請(qǐng)進(jìn)行各種改動(dòng)和變型而不脫離本申請(qǐng)的精神和范圍。這樣，倘若本申請(qǐng)的這些修改和變型屬于本申請(qǐng)權(quán)利要求及其等同技術(shù)的范圍之內(nèi)，則本申請(qǐng)也意圖包含這些改動(dòng)和變型在內(nèi)。

帶鋼鍍鋅層測(cè)厚裝置以及測(cè)厚方法.pdf