本發(fā)明涉及一種薄片形成設(shè)備,薄片形成設(shè)備包含用于固持材料熔體以及置于熔體內(nèi)的固體薄片的坩堝、配置于所述坩堝上方用以自所述熔體形成薄片的結(jié)晶器和鄰近所述結(jié)晶器配置的超聲波測(cè)量系統(tǒng),所述超聲波測(cè)量系統(tǒng)包括至少一個(gè)超聲波測(cè)量裝置,其包含耦合到超聲波換能器的波導(dǎo)以導(dǎo)引超聲波脈沖穿過(guò)所述熔體。
聲明:
“在高溫測(cè)量材料厚度的系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)