本發(fā)明公開了一種基于電子探針原位分析的全巖組份測試方法。對制作好的巖石光片或光薄片噴鍍碳導(dǎo)電膜,將噴鍍處理后的樣品放入電子探針樣品室進(jìn)行分析,在450~550倍的放大倍數(shù)下拍攝背散射電子圖像,對圖像中的不同礦物用電子探針波譜儀進(jìn)行精確定量分析,再對被拍攝的背散射圖像使用網(wǎng)格法統(tǒng)計不同礦物所占的面積百分比。取同一種礦物不同分析點的元素含量平均值與礦物的面積百分比的加權(quán)平均值得出的結(jié)果即為該巖石樣品的全巖元素含量。本發(fā)明方法具有不破壞樣品、原位微束分析、分析精度高、樣品制備簡單和無污染等優(yōu)點,在隕石、寶玉石和珍貴稀有巖石樣品分析中具有很好的應(yīng)用前景。
聲明:
“基于電子探針原位分析的全巖組份測試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)