本發(fā)明涉及一種五軸四維異形樣品X射線熒光光譜探測裝置,設(shè)有支架、外殼、X射線發(fā)生系統(tǒng)、五軸可調(diào)探測系統(tǒng)、顯微攝像系統(tǒng)、三維測件臺座和信息分析和控制系統(tǒng);探測系統(tǒng)的主體探測頭的下方設(shè)有多孔右底板、伸縮曲桿和可調(diào)節(jié)橫桿、螺絲桿及旋鈕;X射線發(fā)生系統(tǒng)的主體X射線管下方設(shè)有左底板、可調(diào)底支架;顯微攝像系統(tǒng)的主體攝像頭固定在可前后左右調(diào)節(jié)位置的活動支架上;測件臺座設(shè)有臺板、調(diào)節(jié)螺絲桿、調(diào)節(jié)控制器;所述信息分析和控制系統(tǒng)設(shè)有計(jì)算機(jī)及其顯示器、打印機(jī);還設(shè)有定時(shí)運(yùn)行控制系統(tǒng)和安全報(bào)警器。本發(fā)明適用于利用X射線熒光光譜對各種成份和形態(tài)的礦物質(zhì)、生物質(zhì)等進(jìn)行成份分析。結(jié)構(gòu)完善、使用方便靈活、探測效果好效率高、安全可靠。
聲明:
“五軸四維異形樣品X射線熒光光譜探測裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)