本發(fā)明提供一種探頭裝置和用于測量磁鐵礦沉積物厚度的相關(guān)方法,所述裝置和方法獨立于所述鐵磁性沉積物的孔隙度和磁導(dǎo)率。本發(fā)明的所述探頭裝置是能夠準確并且可靠地測量管的內(nèi)側(cè)直徑的軸向掃描和內(nèi)側(cè)表面跟隨探頭。本發(fā)明的所述探頭裝置任選地包括兩個模塊:第一模塊是表面跟隨模塊,而第二模塊是傳統(tǒng)的渦流探頭。
聲明:
“用于測量管內(nèi)側(cè)沉積物的裝置和方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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