本發(fā)明公開(kāi)了一種釬探孔探測(cè)儀,它包括:支撐架;可調(diào)底座,設(shè)于所述支撐架上;安裝架,固定于所述可調(diào)底座上;探管,滑動(dòng)穿過(guò)所述安裝架及所述可調(diào)底座,該探管上標(biāo)有刻度;金屬檢測(cè)桿,可螺旋升降地設(shè)置于所述探管內(nèi);可視探頭,設(shè)于所述金屬探測(cè)桿的下端;以及顯示裝置,設(shè)于所述安裝架上;該顯示裝置連接于所述可視探頭,用以接收、儲(chǔ)存并顯示該可視探頭所獲取的影像信息。本發(fā)明釬探孔探測(cè)儀可以獲取基礎(chǔ)持力層中不良地質(zhì)層的精確數(shù)據(jù)及影像信息。此外,本發(fā)明還提供一種釬探孔探測(cè)儀及探測(cè)方法,可以精確探明基礎(chǔ)持力層中不良地質(zhì)層的規(guī)模。
聲明:
“釬探孔探測(cè)儀及探測(cè)方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專(zhuān)利(論文)的發(fā)明人(作者)