本公開是高阻薄膜制備方法及高阻薄膜。該方法包括:將預(yù)處理后的微通道板放置于原子層沉積設(shè)備進行初處理;在初處理后的所述微通道板上進行導(dǎo)電層沉積;在所述導(dǎo)電層上制備復(fù)合疊層結(jié)構(gòu),所述復(fù)合疊層結(jié)構(gòu)包括i個循環(huán)結(jié)構(gòu),每個所述循環(huán)結(jié)構(gòu)包括n個循環(huán)的高阻相和m個循環(huán)的低阻相;在所述復(fù)合疊層結(jié)構(gòu)上沉積二次電子發(fā)射層;對沉積了所述二次電子發(fā)射層的所述微通道板進行結(jié)晶處理。其中,通過ALD制備出特定比例的高阻系材料與低阻系材料的
復(fù)合材料,通過調(diào)控復(fù)合材料中導(dǎo)電相的循環(huán)比例,從而可以獲得電阻可控的MCP用高阻薄膜。
聲明:
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