本發(fā)明公開(kāi)了一種用于解釋和評(píng)價(jià)水平井測(cè)井參數(shù)的方法,其包括:利用測(cè)井曲線建立地層模型;利用鉆井參數(shù)來(lái)計(jì)算和展現(xiàn)水平井的井眼軌跡,基于鉆井參數(shù)將測(cè)井曲線進(jìn)行水平和垂向投影;將所建立的地層模型和地震剖面資料導(dǎo)入水平井中;通過(guò)分析測(cè)井響應(yīng)特征劃分鉆遇地層界面,并以此為約束,分析測(cè)井響應(yīng)特征是否發(fā)生明顯變化;調(diào)整地層模型與實(shí)際測(cè)井曲線進(jìn)行匹配;模擬電阻率的響應(yīng)特征。本發(fā)明采用以雙感應(yīng)電阻率的正演模擬為基礎(chǔ)形成的水平井解釋評(píng)價(jià)技術(shù),克服了傳統(tǒng)的單一的直井解釋方式缺陷。所形成的二維解釋方法更符合地質(zhì)特征,能夠滿(mǎn)足勘探與開(kāi)發(fā)對(duì)于水平井解釋新方法迫切需求,達(dá)到優(yōu)化壓裂選層目的。
聲明:
“用于解釋和評(píng)價(jià)水平井測(cè)井參數(shù)的方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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