本發(fā)明提供一種測(cè)井探測(cè)尺度三維精細(xì)地層模型構(gòu)建方法,包括以下步驟,步驟1:構(gòu)建三維測(cè)井探測(cè)尺度精細(xì)地層模型的幾何模型;步驟2:電成像數(shù)據(jù)方位校正、空白帶填充與電阻率標(biāo)定;步驟3:依據(jù)標(biāo)定后的電成像數(shù)據(jù)對(duì)三維測(cè)井探測(cè)尺度精細(xì)地層幾何模型的每個(gè)網(wǎng)格進(jìn)行電阻率屬性賦值構(gòu)建三維測(cè)井探測(cè)尺度精細(xì)地層的物理模型;步驟4:依據(jù)有限元法計(jì)算上述三維測(cè)井探測(cè)尺度精細(xì)地層物理模型,計(jì)算的電阻率與側(cè)向曲線以及地質(zhì)信息對(duì)比。本發(fā)明的有益效果是,本發(fā)明的技術(shù)方案為測(cè)井解釋反演提供新的儲(chǔ)層參數(shù)和測(cè)井解釋模型,提高測(cè)井解釋精度和流體識(shí)別能力,為未來(lái)構(gòu)建全新的測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)處理與解釋模型奠定模型與數(shù)值模擬方法的基礎(chǔ)。
聲明:
“測(cè)井探測(cè)尺度三維精細(xì)地層模型構(gòu)建方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)