本發(fā)明公開(kāi)了一種海底底質(zhì)反射率測(cè)量裝置及測(cè)量方法,包括光譜探頭、第一白板、第二白板、測(cè)距儀和轉(zhuǎn)軸;第一白板和第二白板的反射率已知,第一白板和第二白板以沿轉(zhuǎn)軸軸向具有間距、且沿轉(zhuǎn)軸徑向相互錯(cuò)開(kāi)的方式連接在轉(zhuǎn)軸上;光譜探頭用于獲取第一白板、第二白板和海底底質(zhì)的光譜數(shù)據(jù);測(cè)距儀用于獲取第一白板與海底底質(zhì)之間的間距數(shù)據(jù);轉(zhuǎn)軸用于帶動(dòng)第一白板和第二白板轉(zhuǎn)動(dòng),使得第一白板、第二白板依次處于光譜探頭的正前方。本發(fā)明只采用一個(gè)光譜探頭就可實(shí)現(xiàn)對(duì)海底地質(zhì)反射率的測(cè)量,進(jìn)而可實(shí)現(xiàn)海草和珊瑚健康狀況的監(jiān)測(cè),其制作和運(yùn)行成本低,并在一定程度上解決了因光譜探頭差異性導(dǎo)致測(cè)量偏差的問(wèn)題。
聲明:
“海底底質(zhì)反射率測(cè)量裝置及測(cè)量方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)