本發(fā)明提出一種分析納米顆粒三維分布并獲得其多尺度信息的方法。該方法包括:步驟1、制備陶瓷基納米
復(fù)合材料的樣品并設(shè)計同步輻射納米CT成像實驗;步驟2、獲取納米CT投影序列并進(jìn)行CT重建與三維可視化;步驟3、建立樣品中任意空間感興趣區(qū)域內(nèi)納米顆粒的三維高階最近鄰指數(shù)模型;步驟4、根據(jù)三維高階最近鄰指數(shù)模型的分析計算定性定量表征納米顆粒的三維分布模式并獲得納米顆粒的多尺度信息。
聲明:
“分析納米顆粒三維分布并獲得其多尺度信息的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)