本發(fā)明涉及一種用于鈾礦石品位監(jiān)測(cè)的探頭及裝置,所述的探頭由NaI(Tl)探測(cè)器與光電倍增管及電子學(xué)單元連接組成;所述的NaI(Tl)探測(cè)器內(nèi)部為NaI(Tl)晶體,在NaI(Tl)晶體的外部設(shè)有晶體護(hù)套,用于保護(hù)NaI(Tl)晶體;在NaI(Tl)晶體和晶體護(hù)套的空隙中填充黃餅,用于鈾的能譜峰位定位;在所述的晶體護(hù)套的外部設(shè)有鉛屏蔽部件,用于使NaI(Tl)晶體在測(cè)量過程中不受外界放射性核素的干擾;在所述鉛屏蔽部件對(duì)著待測(cè)鈾礦石的部分設(shè)有一個(gè)錐度開口,用于接收待測(cè)鈾礦石發(fā)出的射線;所述的探頭,用于測(cè)量
235U的γ射線185.7keV特征峰;所述的監(jiān)測(cè)裝置包括本發(fā)明所述的探頭、吊具、脈沖電路、高壓電源、多道分析器和計(jì)算機(jī)。
聲明:
“用于鈾礦石品位監(jiān)測(cè)的探頭及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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