本發(fā)明是一種微位移測量技術(shù),可用于災(zāi)害性地質(zhì)點或大型建筑的微位移險情預(yù)報。在被測點放置一廉價的無源角反射器。在監(jiān)測點放置一微波比相測量裝置。比相測量裝置的發(fā)射部分向角反射器發(fā)射一單頻微波,角反射器由三塊廉價的鋁板構(gòu)成,它把入射到它的微波按原路徑全反射回來(類似夜間高速公路上的珠光玻璃,在車燈照射下像一盞燈)。比相測量裝置的接收部分接收角反射器反射回來的微波信號。經(jīng)與發(fā)射信號比相可測得微位移量。測量精度可達毫米級與目前最先進的南方NGK-500/600雙頻RTK測量系統(tǒng)相當,但成本低、使用方便、安全。當微位移方向與電波傳播方向近似垂直時,可用本發(fā)明的彎管測量技術(shù)。就是用一反射板改變電波傳播方向,調(diào)整反射板17角度把測點放置在一安全方便的位置。彎管測量系統(tǒng)的精度與基本測量系統(tǒng)相同。角反射器也好,反射板也好都是廉價的鋁板構(gòu)成,即使壓壞了也問題不大。
聲明:
“微位移測量技術(shù)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)