本發(fā)明提出了一種測量頻率域水平X方向磁場分量并同時(shí)計(jì)算“全區(qū)”視電阻率的方法包括:(1)、在近似
方位上的勘探區(qū)域,測量頻率域水平X方向磁場分量的頻譜資料;(2)、將水平X方向磁場分量的頻譜資料轉(zhuǎn)換為實(shí)測歸一化函數(shù);(3)、采用數(shù)值尋找出理論歸一化函數(shù)與實(shí)測歸一化函數(shù)相等的點(diǎn),再獲取“全區(qū)”視電阻率。通過頻譜資料處理和反演得到地下特定深度目標(biāo)地層的電阻率分布資料。本發(fā)明僅采集水平X方向磁場分量,布設(shè)儀器方便,施工效率高,工程成本低;增強(qiáng)了對地質(zhì)目標(biāo)水平方向上的分辨能力;解決了復(fù)雜地貌條件下常規(guī)電磁法的技術(shù)難點(diǎn);克服了常規(guī)時(shí)間域方法長延遲信噪比比短延遲信噪比低的缺點(diǎn)。
聲明:
“頻率域水平X方向磁場分量觀測及資料處理方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)