一種基于多日變點(diǎn)的被動場源類三維電場勘探方法。本方法是為解決大范圍測區(qū)開展被動場源的電場勘探時所存在的場源空間變化所導(dǎo)致的勘探精度低的問題,采用布置二維平面方式的多個日變點(diǎn),通過地質(zhì)因子校正系數(shù)、日變因子校正系數(shù)、日變校正系數(shù)等特定公式求取整個測區(qū)內(nèi)的由于場源空間變化所帶來的日變趨勢,對平面內(nèi)所有記錄點(diǎn)所有時刻所有頻率的被動場源電場數(shù)據(jù)進(jìn)行日變校正,從而實(shí)現(xiàn)多日變點(diǎn)聯(lián)測的被動場源類三維電法勘探。該方法能解決由于被動場源的空間變化所帶來的電場數(shù)據(jù)畸變問題,獲得類似于三維勘探成果,從而提高不同記錄點(diǎn)的電場數(shù)據(jù)的可比性,提高勘探精度,擴(kuò)大應(yīng)用范圍。
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