本發(fā)明提供一種基于聯(lián)合剖面的三維電法勘探方法。本發(fā)明基于電法勘探中的聯(lián)合剖面法所獲取的多條相交測線的不同記錄點的多個方向的電阻率、極化率等電法數(shù)據(jù),對相同記錄點、多個方向、相同極距的電阻率、極化率等電法數(shù)據(jù)分別進行平均值和差值的絕對值等綜合處理,以記錄點的平面坐標(biāo)繪制不同電法數(shù)據(jù)的曲線圖,主要選擇相關(guān)電法參數(shù)的差值的絕對值的極大值點進行異常體的異常分布范圍判斷,并進行綜合解譯,從而提高聯(lián)合剖面法的勘探效果。本發(fā)明能提高聯(lián)合剖面法的電法勘探效果和精度,增加對地質(zhì)異常體的分布范圍、產(chǎn)狀、走向等三維異常特征的識別度。
聲明:
“基于聯(lián)合剖面的三維電法勘探方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)