本發(fā)明公開了一種黃土高填方滯水層探測方法,包括步驟一、布設(shè)高密度測線;步驟二、獲得電阻率數(shù)據(jù);步驟三、獲取電阻率剖面圖;步驟四、獲得黃土高填方待測區(qū)域剖面上的滯水層待定層的數(shù)量及分布;步驟五、構(gòu)建黃土高填方三維圖視;步驟六、滯水層的測定。本發(fā)明利用高密度電法對黃土高填方區(qū)域進(jìn)行探測,獲得黃土高填方剖面上的滯水層待定層的數(shù)量及分布,實(shí)現(xiàn)黃土高填方區(qū)域滯水層的粗探測,通過地質(zhì)鉆孔取樣測定滯水層待定層的含水率,實(shí)現(xiàn)黃土高填方區(qū)域滯水層的精準(zhǔn)探測,投入成本低,能夠全覆蓋且大幅度提高工作效率。
聲明:
“黃土高填方滯水層探測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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