本發(fā)明涉及一種微米級顆粒樣品的氣壓顯微操縱系統(tǒng)及方法,其方法為先把中空玻璃針尖固定到微控制器的夾持桿上,利用顯微鏡在放有顆粒樣品的樣品臺上找到待提取的單個顆粒樣品,開啟氣壓系統(tǒng)提供的負壓捕獲樣品到針尖尖端,并在更換樣品臺后利用脈沖正壓釋放被靜電吸附的單個顆粒樣品,期間利用顯微觀察和成像系統(tǒng)記錄和調(diào)控整個樣品移動和操縱過程。此方法簡單高效,成功率高,較好的解決了微小尺寸稀有樣品單個顆粒的轉(zhuǎn)移和操縱,適用于各種固體材料及礦物。系統(tǒng)結(jié)構(gòu)簡單、易于搭建,在生物、材料及地質(zhì)、行星學領(lǐng)域有廣泛的應(yīng)用。
聲明:
“微米級顆粒樣品的氣壓顯微操縱系統(tǒng)及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)